[發(fā)明專利]一種燈管測(cè)試、貼膜設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410849659.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104569759A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳億善;薄克艷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 愛彼思(蘇州)自動(dòng)化科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12;G01M11/02;B65B33/02 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 215163 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 燈管 測(cè)試 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測(cè)試、貼膜多功能合一的設(shè)備。
背景技術(shù)
燈管在出廠前,往往需要檢測(cè)發(fā)光部分的光學(xué)性能、引腳12的耐壓性能,以保證使用壽命和安全性。同時(shí)燈管的外表面還需要貼附標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)識(shí)。但是現(xiàn)有的耐壓測(cè)試和貼膜通常是分開進(jìn)行的,并使用單體設(shè)備逐個(gè)進(jìn)行人工操作,十分的浪費(fèi)人力和時(shí)間,生產(chǎn)效率低下。
發(fā)明內(nèi)容
一種燈管測(cè)試、貼膜設(shè)備,所述燈管包括燈管本體和設(shè)于燈管本體端部的引腳,其特征是,包括若干用于燈管輸送的傳送裝置,以及設(shè)置在傳送裝置傳送方向上的光學(xué)測(cè)試機(jī)構(gòu),貼膜機(jī)構(gòu),和耐壓測(cè)試機(jī)構(gòu),所述光學(xué)測(cè)試機(jī)構(gòu)設(shè)于貼膜機(jī)構(gòu)的上游,用于燈管本體的光學(xué)性能測(cè)試;所述耐壓測(cè)試機(jī)構(gòu)用于燈管端部的引腳耐壓性能檢測(cè);所述貼膜機(jī)構(gòu)用于對(duì)所述燈管本體的至少一側(cè)貼附待貼件。
優(yōu)選的,所述光學(xué)測(cè)試機(jī)構(gòu),耐壓測(cè)試機(jī)構(gòu),和貼膜機(jī)構(gòu),依次設(shè)置在傳送裝置的傳送方向上。
優(yōu)選的,所述光學(xué)測(cè)試機(jī)構(gòu),包括中空的暗箱,暗箱中設(shè)有光學(xué)測(cè)試裝置,暗箱至少有相對(duì)處于所述傳送方向上游的一側(cè)設(shè)置供燈管通過的開口,并設(shè)有能夠打開和封閉所述開口的活動(dòng)門。
優(yōu)選的,所述傳送裝置穿過暗箱設(shè)置,且所述活動(dòng)門上開設(shè)容納所述傳送裝置行進(jìn)的缺口。
優(yōu)選的,所述活動(dòng)門上沿垂直于傳送方向的方向設(shè)有多個(gè)適應(yīng)不同位置傳送裝置通行的所述缺口。
優(yōu)選的,所述暗箱相對(duì)處于所述傳送方向上游和下游的兩側(cè)均設(shè)置所述開口和對(duì)應(yīng)的所述活動(dòng)門,暗箱中設(shè)置一氣缸同時(shí)控制兩扇所述活動(dòng)門的打開和封閉。
優(yōu)選的,所述傳送裝置穿過暗箱并偏向暗箱一側(cè)設(shè)置,暗箱近于傳送裝置的一側(cè)為第一側(cè)面,活動(dòng)門通過靠近和遠(yuǎn)離所述第一側(cè)面進(jìn)行打開和封閉,且活動(dòng)門面向所述第一側(cè)面的一側(cè)開設(shè)容納所述傳送裝置行進(jìn)的缺口。
優(yōu)選的,所述暗箱中設(shè)有限制所述活動(dòng)門在氣缸驅(qū)動(dòng)下行進(jìn)方向的限位機(jī)構(gòu)。
優(yōu)選的,所述限位機(jī)構(gòu)包括平行于所述氣缸軸線方向設(shè)置的導(dǎo)軌,以及設(shè)于活動(dòng)門上與所述導(dǎo)軌配合的滑塊。
優(yōu)選的,所述傳送裝置上設(shè)有用于支撐所述燈管的燈管放置治具,所述燈管放置治具包括一組兩個(gè)底座分別用于支撐所述燈管的兩端,所述底座中開設(shè)容置所述引腳的凹槽,所述耐壓測(cè)試機(jī)構(gòu)具有能夠伸入底座凹槽并接觸所述引腳的導(dǎo)電觸頭。
優(yōu)選的,所述底座中設(shè)有與所述凹槽相通的限位槽,導(dǎo)電觸頭通過限位槽與凹槽中容納的燈管引腳接觸。
優(yōu)選的,所述耐壓測(cè)試機(jī)構(gòu)包括升降結(jié)構(gòu),所述導(dǎo)電觸頭設(shè)置在升降結(jié)構(gòu)上,能夠跟隨升降結(jié)構(gòu)在高度方向移動(dòng)從而靠近和遠(yuǎn)離所述燈管放置治具的凹槽,所述凹槽開口在底座的上端。
優(yōu)選的,所述導(dǎo)電觸頭為彈性導(dǎo)電觸頭。
優(yōu)選的,所述升降結(jié)構(gòu)為氣缸。
優(yōu)選的,所述待貼件附著在底膜上形成帶狀料帶,所述貼膜機(jī)構(gòu)包括垂直傳送方向的設(shè)置的位移裝置,以及能夠跟隨位移裝置移動(dòng)、沿?zé)艄荛L度方向進(jìn)行貼膜工作的貼附裝置,所述貼附裝置包括對(duì)卷繞成筒狀的料帶進(jìn)行放料的放料裝置,與放料裝置配合、對(duì)底膜進(jìn)行收料的收料裝置,以及設(shè)置在料帶行進(jìn)方向上的用于將待貼件剝離底膜的剝離裝置,還包括用于將剝離底膜后的待貼件貼附到燈管表面的貼附件。
優(yōu)選的,所述貼附裝置通過一升降裝置設(shè)置于所述位移裝置上,能夠上下移動(dòng)使得貼附件接觸和離開所述燈管。
優(yōu)選的,所述貼附件具有與所述燈管表面貼附配合的工作面,當(dāng)所述燈管水平放置,所述工作面相對(duì)于水平面傾斜設(shè)置。
優(yōu)選的,所述升降裝置上設(shè)有兩套所述貼附裝置,且兩套貼附裝置的貼附件分別朝向燈管傳送方向的上游和下游。
優(yōu)選的,兩套貼附裝置的貼附件關(guān)于豎直方向?qū)ΨQ設(shè)置。
優(yōu)選的,所述貼附裝置包括安裝架,所述貼附件為可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)于所述安裝架的壓輪,壓輪的側(cè)面形成與所述燈管表面貼附配合的工作面。
優(yōu)選的,所述貼膜機(jī)構(gòu)至少有一側(cè)待貼件和耐壓測(cè)試機(jī)構(gòu)的工作位置一致。
優(yōu)選的,所述燈管測(cè)試、貼膜設(shè)備包括至少兩個(gè)傳送方向并行排布的傳送裝置,用于輸送所述燈管,且至少一個(gè)所述傳送裝置在垂直于所述傳送方向的位置可調(diào)。
優(yōu)選的,包括至少三個(gè)所述傳送裝置。
優(yōu)選的,所述傳送裝置為鏈?zhǔn)絺魉徒Y(jié)構(gòu),包括環(huán)形鏈條,所述條形工件傳輸機(jī)構(gòu)包括設(shè)于鏈條周向的上部下端的支撐板,用于支撐行進(jìn)中的鏈條。
本發(fā)明所達(dá)到的有益效果:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于愛彼思(蘇州)自動(dòng)化科技有限公司;,未經(jīng)愛彼思(蘇州)自動(dòng)化科技有限公司;許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410849659.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





