[發(fā)明專利]一種基于支持向量機(jī)的電化學(xué)噪聲腐蝕類型判別方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410849135.5 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104502267A | 公開(公告)日: | 2015-04-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李健;張宇;孔偉康;陳冠任;鄭煥軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N17/02 | 分類號(hào): | G01N17/02 |
| 代理公司: | 天津才智專利商標(biāo)代理有限公司12108 | 代理人: | 龐學(xué)欣 |
| 地址: | 300072*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 支持 向量 電化學(xué) 噪聲 腐蝕 類型 判別 方法 | ||
1.一種基于支持向量機(jī)的電化學(xué)噪聲腐蝕類型判別方法,其特征在于:所述的基于支持向量機(jī)的電化學(xué)噪聲腐蝕類型判別方法包括按順序進(jìn)行的下列步驟:
步驟1)建立輸入特征向量:對(duì)從電化學(xué)噪聲腐蝕實(shí)驗(yàn)得到的電化學(xué)噪聲信號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行整理,并由此建立輸入特征向量;
步驟2)分集處理:將輸入特征向量分為訓(xùn)練集80%和測(cè)試集20%;
步驟3)尋找最佳的SVM參數(shù):由于SVM使用交叉驗(yàn)證方法,在訓(xùn)練過(guò)程中取不同的懲罰參數(shù)c與核函數(shù)參數(shù)g,計(jì)算其均分交叉驗(yàn)證的平均精度;當(dāng)平均精度達(dá)到最大時(shí)的懲罰參數(shù)c與核函數(shù)參數(shù)g被認(rèn)為是最佳的SVM參數(shù);
步驟4)通過(guò)訓(xùn)練集訓(xùn)練得到最佳的SVM模型:將上述得到的最佳懲罰參數(shù)c與核函數(shù)參數(shù)代入訓(xùn)練集進(jìn)行訓(xùn)練而得到最佳的SVM模型;
步驟5)利用SVM模型預(yù)測(cè)電化學(xué)噪聲腐蝕類型:利用上述SVM模型去預(yù)測(cè)測(cè)試集而得到電化學(xué)噪聲腐蝕類型的預(yù)測(cè)結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于支持向量機(jī)的電化學(xué)噪聲腐蝕類型判別方法,其特征在于:在步驟1)中,所述的建立輸入特征向量的方法如下:
步驟1.1)提煉不同腐蝕類型的典型電化學(xué)噪聲信號(hào):根據(jù)電化學(xué)噪聲在時(shí)域圖中的腐蝕將其區(qū)分為點(diǎn)蝕、均勻腐蝕和鈍化三種腐蝕類型;不同的腐蝕類型其表現(xiàn)的電化學(xué)噪聲在時(shí)域圖上有很大區(qū)別;當(dāng)發(fā)生點(diǎn)蝕時(shí),電流噪聲和電壓噪聲會(huì)出現(xiàn)明顯的暫態(tài)峰;當(dāng)發(fā)生鈍化或者均勻腐蝕時(shí),電流噪聲和電壓噪聲則表現(xiàn)為高頻的無(wú)規(guī)律的振蕩;
步驟1.2)數(shù)據(jù)分組:將采集得到的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)按1024個(gè)點(diǎn)為一單位進(jìn)行數(shù)據(jù)切割,即每512秒存一個(gè)單獨(dú)小文件,文件名按時(shí)間疊加,則可以得到大量的各種腐蝕的數(shù)據(jù);
步驟1.3)提取每組數(shù)據(jù)各個(gè)特征參數(shù):對(duì)這些所有小文件中每種腐蝕類型隨機(jī)選取上百組數(shù)據(jù),批處理這些數(shù)據(jù),得到每組數(shù)據(jù)各個(gè)特征參數(shù)的值;
步驟1.4)組成輸入特征向量:通過(guò)計(jì)算各組的電化學(xué)信號(hào)特征值,得到了上百組樣本的值;將每組樣本的10項(xiàng)參數(shù)按噪聲電阻、特征電荷、特征頻率、小波歸一化能量d1~d7層的能量比的順序組成一組特征向量,上百組樣本值可得到上百組不同的特征向量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于支持向量機(jī)的電化學(xué)噪聲腐蝕類型判別方法,其特征在于:在步驟3)中,所述的尋找最佳的SVM參數(shù)的方法是:首先采用大間隔去找到懲罰參數(shù)c與核函數(shù)參數(shù)g最佳值的大致位置,然后再在該最佳位置附近采用小間隔去尋找最佳懲罰參數(shù)c與核函數(shù)參數(shù)g。
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