[發明專利]陣列基板、顯示面板及陣列基板的檢測方法有效
| 申請號: | 201410848799.X | 申請日: | 2014-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN104570528A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發明(設計)人: | 陳政鴻 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1362 | 分類號: | G02F1/1362;G02F1/1343;G02F1/13 |
| 代理公司: | 廣州三環專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 顯示 面板 檢測 方法 | ||
1.一種陣列基板,其特征在于,所述陣列基板包括呈矩陣分布的多個像素,每個像素包括多個依次排列的子像素,每個子像素與一個電容相對且間隔設置,每個子像素包括一個子像素電極,至少一子像素電極包括一延伸部,至少一子像素的子像素電極的延伸部對應相鄰的子像素與所述相鄰的子像素對應的電容之間的間隙設置。
2.如權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,每個像素包括三個依次排列的子像素,三個依次排列的子像素為第一子像素、第二子像素及第三子像素,所述第一子像素與第一電容相對且間隔設置,所述第二子像素與第二電容相對且間隔設置,所述第三子像素與第三電容相對且間隔設置,所述第一子像素包括第一子像素電極,所述第二子像素包括第二子像素電極,所述第三子像素包括第三子像素電極,所述第一子像素電極包括第一延伸部,所述第一延伸部對應所述像素中的第二子像素與所述第二電容之間的間隙設置。
3.如權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,所述第二子像素電極包括第二延伸部,所述第二延伸部對應所述像素中的第三子像素與所述第三電容之間的間隙設置。
4.如權利要求3所述的陣列基板,其特征在于,所述第三子像素電極包括第三延伸部,所述第三延伸部對應所述像素相鄰的像素中的第一子像素與第一電容之間的間隙設置。
5.一種顯示面板,其特征在于,所述顯示面板包括陣列基板,所述陣列基板包括呈矩陣分布的多個像素,每個像素包括多個依次排列的子像素,每個子像素與一個電容相對且間隔設置,每個子像素包括一個子像素電極,至少一子像素電極包括一延伸部,至少一子像素的子像素電極的延伸部對應相鄰的子像素與所述相鄰的子像素對應的電容之間的間隙設置。
6.如權利要求5所述的顯示面板,其特征在于,每個像素包括三個依次排列的子像素,三個依次排列的子像素為第一子像素、第二子像素及第三子像素,所述第一子像素與第一電容相對且間隔設置,所述第二子像素與第二電容相對且間隔設置,所述第三子像素與第三電容相對且間隔設置,所述第一子像素包括第一子像素電極,所述第二子像素包括第二子像素電極,所述第三子像素包括第三子像素電極,所述第一子像素電極包括第一延伸部,所述第一延伸部對應所述像素中的第二子像素與所述第二電容之間的間隙設置。
7.如權利要求6所述的顯示面板,其特征在于,所述第二子像素電極包括第二延伸部,所述第二延伸部對應所述像素中的第三子像素與所述第三電容之間的間隙設置。
8.如權利要求7所述的顯示面板,其特征在于,所述第三子像素電極包括第三延伸部,所述第三延伸部對應所述像素相鄰的像素中的第一子像素與第一電容之間的間隙設置。
9.一種陣列基板的檢測方法,其特征在于,所述陣列基板包括呈矩陣分布的多個像素,每個像素包括多個依次排列的子像素,每個子像素與一個電容相對且間隔設置,每個子像素包括一個子像素電極,至少一子像素電極包括一延伸部,至少一子像素的子像素電極的延伸部對應相鄰的子像素與所述相鄰的子像素對應的電容之間的間隙設置;
依次點亮一種顏色的子像素并觀測所述陣列基板;
判斷所述陣列基板中除了所述點亮的顏色之外是否還有其他顏色;
當所述陣列基板中除了所述點亮的顏色之外沒有其他顏色,則所述陣列基板為正常。
10.如權利要求9所述的陣列基板的檢測方法,其特征在于,當所述陣列基板中除了點亮的顏色之外還有其他顏色,則所述陣列基板上顯示其他顏色的子像素的延伸部與當前被點亮的顏色的子像素的子像素電極以及其所對應的電容之間出現短路。
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