[發明專利]氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法

在審

• 申請號: 201410843987.3
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104502248A
• 公開（公告）日: 2015-04-08
• 發明（設計）人: 應剛;欒旭東;張蘇偉;方軍;吳升海
• 申請（專利權）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06;G01N23/00;G01N23/223
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，包括：

使用自動濾紙運送裝置將濾紙移送至固定安裝在基座的beta射線檢測裝置檢測處，停留，進行顆粒物的富集以形成待檢測樣，同時進行顆粒物濃度檢測或待富集結束后由觸發信號觸發后進行顆粒物濃度檢測，所述beta射線檢測裝置測試完畢后，所述自動濾紙運送裝置將待檢測樣移送至安裝在所述基座上的X射線檢測裝置檢測處，進行重金屬濃度檢測；待重金屬濃度檢測結束后，所述自動濾紙運送裝置重復進行下一次濾紙運送動作，濾紙運送動作的重復性由自動控制或人工控制，所述自動控制為周期性或預先設定。

2.根據權利要求1所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括，所述自動濾紙運送裝置具有驅動濾紙盤和被動濾紙盤，濾紙安裝在所述被動濾紙盤上，所述驅動濾紙盤由動力源帶動轉動并帶動所述被動濾紙盤，進而帶動濾紙經過所述beta射線檢測裝置檢測處及所述X射線檢測裝置檢測處，并進而卷至入所述驅動濾紙盤上。

3.根據權利要求1所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括：

進行顆粒物濃度檢測時，首先測試濾紙自身的顆粒物富集濃度A_空白，在富集過程結束后，測試濾紙上樣品的顆粒物富集濃度A_總，得出氣態流體顆粒物濃度結果A_樣品=A_總-A_空白。

4.根據權利要求3所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，在測量A_空白和A_總的過程中濾紙不需要移動，從而避免了運動誤差所帶來的測量誤差。

5.根據權利要求3所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述富集過程時間為5min到24h之間，可預先設定。

6.根據權利要求1所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括：進行重金屬濃度檢測時，首先測試濾紙自身的重金屬濃度B_空白，在富集過程結束后，測試濾紙上樣品的顆粒物富集濃度B_總，得出氣態流體重金屬濃度結果B_樣品=B_總-B_空白。

7.根據權利要求1所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述濾紙不含元素周期表中原子序數11（鈉，Na）以上的元素。

8.根據權利要求1所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括由計算機系統或單片機系統或ASIC芯片構成的控制系統，所述控制系統全自動控制所述自動濾紙運送裝置的濾紙運送動作、所述所述beta射線檢測裝置檢測動作以及所述X射線檢測裝置檢測動作。

9.根據權利要求1所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括利用校準裝置對所述X射線檢測裝置進行自動校準X熒光強度、能量刻度以及自動對所述X射線檢測裝置測量結果進行質量控制。

10.根據權利要求1所述的氣體中顆粒物質量濃度及元素成分雙射線自動檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括利用顆粒物濃度測量結果和重金屬濃度測量結果得到重金屬在顆粒物中所占的比例，可用于獲知氣態流體的主要來源。