[發明專利]米級車載自適應光學成像望遠鏡有效
| 申請號: | 201410843250.1 | 申請日: | 2014-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN104570321A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發明(設計)人: | 王建立;趙金宇;趙勇志;明名;劉欣悅;陳寶剛;賈建祿 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G02B23/16 | 分類號: | G02B23/16;B62D53/00 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 南小平 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 車載 自適應 光學 成像 望遠鏡 | ||
1.米級車載自適應光學成像望遠鏡,其特征在于,包括載車(2)、車載一體化跟蹤臺(3)、俯仰軸系(4)、米級主光學系統(5)、車載液壓防護罩(6)和自適應光學系統(7);
所述車載一體化跟蹤臺(3)固定安裝在所述載車(2)的車架上,所述俯仰軸系(4)通過螺栓與所述車載一體化跟蹤臺(3)連接,米級主光學系統(5)與所述俯仰軸系(4)連接,所述自適應光學系統(7)通過安裝定位孔固定在俯仰軸系(4)上,所述車載液壓保護罩與所述載車(2)連接,所述車載一體化跟蹤臺(3)、俯仰軸系(4)、米級主光學系統(5)和自適應光學系統(7)位于車載液壓防護罩(6)內;
通過車載一體化跟蹤臺(3)和俯仰軸系(4)實現米級主光學系統(5)方位軸(11)和俯仰軸的調整,米級主光學系統(5)接收飛行目標反射光,匯聚到自適應光學系統(7)中進行清晰成像。
2.根據權利要求1所述的米級車載自適應光學成像望遠鏡,其特征在于,所述米級車載自適應光學成像望遠鏡還包括牽引車(1),所述牽引車(1)與所述載車(2)固定連接。
3.根據權利要求1或2所述的米級車載自適應光學成像望遠鏡,其特征在于,所述載車(2)為半掛式低貨臺車輛。
4.根據權利要求1所述的米級車載自適應光學成像望遠鏡,其特征在于,所述車載一體化跟蹤臺(3)包括轉盤軸承(8)、方位軸(11)、角度編碼器(10)、力矩電機(9)、U型架(12)和過渡座(13);所述U型架(12)通過轉盤軸承(8)與所述載車(2)連接,所述轉盤軸承(8)直接安裝在過渡座(13)上,所述方位軸(11)與載車(2)底盤框架連接,所述角度編碼器(10)的定環與方位軸(11)連接,動環與U型架(12)連接,所述力矩電機(9)的定子與所述角度編碼器(10)的定環連接,轉子與所述角度編碼器(10)的動環連接。
5.根據權利要求1所述的米級車載自適應光學成像望遠鏡,其特征在于,所述米級主光學系統(5)所述米級主光學系統(5)包括主反射鏡(14)、次反射鏡(15)、第三反射鏡(16)、平面反射鏡A(17)和反射鏡組(18);次反射鏡(15)對主反射鏡(14)呈現中心遮攔,入射光首先經過主反射鏡(14)的反射,然后依次經過次反射鏡(15)聚焦,再經第三反射鏡(16)、平面反射鏡A(17)、反射鏡組(18)反射后,形成第一像面(19),進入中繼光學系統。
6.根據權利要求1所述的米級車載自適應光學成像望遠鏡,其特征在于,所述自適應光學系統(7)包括:中繼光學系統、一級傾斜校正光學系統、自適應校正光學系統和雙通道高分辨力成像光學系統;
所述中繼光學系統包括平面反射鏡B(20)、平面反射鏡C(21)、拋物反射鏡(22)、平面反射鏡D(23)、分色鏡A(24)、平面反射鏡E(25)和變形鏡(26);第一像面(19)對平面反射鏡B(20)呈中心遮攔,來自第一像面(19)的光束穿過平面反射鏡B(20),依次經平面反射鏡C(21)和拋物反射鏡(22)反射后的光束到達平面反射鏡B(20),光束依次經平面反射鏡B(20)和平面反射鏡D(23)反射后由分色鏡A(24)進行光譜分光,波段為900nm~1700nm的光束透射進入一級傾斜校正光學系統,波段為450nm~900nm的光束經平面反射鏡E(25)和變形鏡(26)反射后進入自適應校正光學系統;
所述一級傾斜校正光學系統包括校正透鏡(27)、平面反射鏡F(28)和短波紅外高速探測器(29);所述短波紅外高速探測器(29)的靶面位于所述校正透鏡(27)的焦面上,由中繼光學系統透射的光束透過校正透鏡(27),經平面反射鏡F(28)反射后,成像在短波紅外高速探測器(29)上;
所述自適應校正光學系統包括耦合透鏡A(30)、平面反射鏡G(31)、第二像面(32)、耦合透鏡B(33)、分色鏡B(34)、平面反射鏡H(35)和波前探測器(36);所述波前探測器(36)的靶面位于所述變形鏡(26)共軛位置上,由中繼光學系統進入的光束透過耦合透鏡A(30),經平面反射鏡G(31)反射形成第二像面(32),來自第二像面(32)的光束透過耦合透鏡B(33)后經分色鏡B(34)進行光譜分光,波段為700nm~900nm的光束透射進入雙通道高分辨力成像光學系統,波段為450nm~700nm的光束平面反射鏡H(35)反射后被波前探測器(36)接收;
所述雙通道高分辨力成像光學系統包括平面反射鏡I(37)、成像透鏡(38)、分光鏡(39)、成像探測器A(40)和成像探測器B(41),成像探測器A(40)的靶面位于所述成像透鏡(38)的焦面位置上,成像探測器B(41)的靶面位于所述成像透鏡(38)的離焦位置上,由自適應校正光學系統進入的光束經平面反射鏡I(37)反射后,透過成像透鏡(38),經分光鏡(39)分光后,分別成像在成像探測器A(40)和成像探測器B(41)上。
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