[發明專利]改善在光網絡測試儀器中的光源的穩定性

有效

• 申請號: 201410840225.8
• 申請日: 2014-12-30
• 公開（公告）號: CN104753589B
• 公開（公告）日: 2019-07-12
• 發明（設計）人: J.薩林;J.D.謝爾
• 申請（專利權）人: 弗蘭克公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;H04B10/40
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張凌苗;胡莉莉

1.一種用于改善在光網絡測試儀器中的光源的穩定性的方法，所述方法包括以下步驟：

執行所述光源的溫度掃描測試以生成與所述光源相關聯的跟蹤誤差特性曲線，所述跟蹤誤差特性曲線將跟蹤誤差值表示為溫度的函數；

在執行所述溫度掃描測試之后，測量所述光源的光輸出功率；

基于測量的光輸出功率和生成的跟蹤誤差特性曲線生成溫度校正值；以及

通過應用所述溫度校正值來調整所述光源的光輸出功率，以獲得所述光源的基本上恒定的光輸出功率。

2.如權利要求1所述的方法，其中生成所述溫度校正值包括計算跟蹤誤差值。

3.如權利要求1所述的方法，其中由操作地耦合到所述光源的加熱器執行所述溫度掃描測試。

4.如權利要求1所述的方法，其中一個或多個溫度傳感器被操作地耦合到所述光源。

5.如權利要求4所述的方法，其中所述一個或多個溫度傳感器生成指示所述光源的溫度的輸出信號。

6.如權利要求1所述的方法，其中測量光輸出功率由所述光網絡測試儀器的功率計部件執行。

7.如權利要求1所述的方法，其中所述溫度校正值包括溫度校正曲線多項式值。

8.如權利要求1所述的方法，進一步包括：在生成所述溫度校正值之后，將所述溫度校正值存儲在所述光網絡測試儀器中。

9.如權利要求1所述的方法，其中調整所述光源的光輸出功率由所述光網絡測試儀器的補償電路部件控制。

10.如權利要求1所述的方法，其中所述光源包括以下內容中的至少一個：發光二極管（LED）、光纖激光器、倍頻光纖激光器、二極管激光器、倍頻二極管激光器或者它們的組合。

11.一種用于改善在光網絡測試儀器中的光源的穩定性的計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質具有存儲于其上的程序指令，所述程序指令在由處理器執行時使得處理器：

執行光源的溫度掃描測試以生成與所述光源相關聯的跟蹤誤差特性曲線，所述跟蹤誤差特性曲線將跟蹤誤差值表示為溫度的函數；

在執行所述溫度掃描測試之后測量光源的光輸出功率；

基于測量的光輸出功率和生成的跟蹤誤差特性曲線生成溫度校正值；以及

通過應用所述溫度校正值來調整所述光源的光輸出功率，以獲得所述光源的基本上恒定的光輸出功率。

12.如權利要求11所述的計算機可讀存儲介質，其中使得處理器生成溫度校正值的程序指令包括使得處理器計算跟蹤誤差值的程序指令。

13.如權利要求11所述的計算機可讀存儲介質，其中使得處理器執行溫度掃描測試的程序指令包括使得處理器控制被操作地耦合到所述光源的加熱器的程序指令。

14.如權利要求11所述的計算機可讀存儲介質，其中一個或多個溫度傳感器被操作地耦合到所述光源。

15.如權利要求14所述的計算機可讀存儲介質，其中程序指令使得處理器從所述一個或多個溫度傳感器接收指示所述光源的溫度的輸出信號。

16.如權利要求11所述的計算機可讀存儲介質，其中使得處理器測量光輸出功率的程序指令包括使得處理器從所述光網絡測試儀器的功率計部件接收指示所述光輸出功率的值的程序指令。

17.如權利要求11所述的計算機可讀存儲介質，其中所述溫度校正值包括溫度校正曲線多項式值。