[發明專利]一種放射性氣體核素β射線自吸收校正方法

有效

• 申請號: 201410835771.2
• 申請日: 2014-12-26
• 公開（公告）號: CN104570035A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 李奇;王世聯;樊元慶;賈懷茂;趙允剛;張新軍;劉蜀疆
• 申請（專利權）人: 北京放射性核素實驗室
• 主分類號: G01T1/00
• 分類號: G01T1/00;G01T1/178
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 楊亞婷

技術領域

本發明涉及一種放射性氣體核素β射線自吸收校正方法，具體涉及β-γ符合法測量放射性氣體核素活度中β射線的自吸收校正。

背景技術

β-γ符合測量方法是一種探測靈敏度較高的氣體放射性核素的測量方法，是大氣環境輻射監測的重要手段。在樣品測量過程中，β射線不可避免地會存在自吸收問題，即當測量樣品中載氣種類和含量不同時，β射線探測效率會有較大不同。目前通常對設備刻度好后采用固定的β射線探測效率計算氣體樣品活度，這會造成活度計算結果不準確。

發明內容

本發明目的是提供一種放射性氣體核素β射線自吸收校正方法，其解決了β-γ符合測量放射性氣體活度時，β射線自吸收校正難題，提高了活度測量的準確度。

本發明的技術解決方案是：

一種放射性氣體核素β射線自吸收校正方法，其特殊之處在于：包括以下步驟：

1)計算載氣與樣品氣成分相同時，單一組分的樣品氣對β射線的吸收校正因子，具體步驟如下：

1.1)在β-γ符合系統中，樣品氣定量充入β探測器中，獲取符合譜和原始譜，按照公式(1)計算此時β射線效率；

ϵβ=nγcnγ·Pβ---(1)]]>

式中，n_γ為原始譜γ射線峰計數率；

n_γc為符合譜γ射線峰計數率；

P_β為β射線發射幾率，

1.2)再定量充入相同成分的載氣，獲取符合譜和原始譜，計算此時的β射線效率；

1.3)重復上述步驟1.2)，獲取不同載氣量下的β射線效率；

1.4)通過公式(2)擬合得到不同載氣量對應β射線效率：

ε_β'＝e^a·V+b??(2)

式中，V為充入β探測器中的氣體量；a和b為線性擬合系數；

當公式(2)中V為零時，即沒有吸收時β射線探測效率為ε_β0；

1.5)計算不同含量的單一組分的樣品氣自吸收系數校正因子為：

K1=ϵβ0ϵβ′=eh·V+i---(3)]]>

式中，h和i為線性擬合系數；

2)計算載氣與樣品氣成分不同時，不同含量的單一載氣對β射線的吸收校正因子，具體步驟如下：

2.1)在β-γ符合系統中，將樣品氣充入β探測器中，獲取符合譜和原始譜，按照公式(1)計算此時β射線效率ε_βs；

2.2)再定量充入載氣，其中的載氣的成分與樣品氣不同，獲取符合譜和原始譜，利用公式(1)計算此時的β射線效率；

2.3)重復上述步驟2.2)，獲取不同載氣量下的β射線效率；

2.4))通過公式(4)擬合得到不同載氣量對應β射線效率：