[發明專利]一種提高γ射線峰探測靈敏度的能譜處理方法

有效

• 申請號: 201410832147.7
• 申請日: 2015-08-03
• 公開（公告）號: CN104504273A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 王世聯;李奇;王軍;張新軍;樊元慶;趙允剛;賈懷茂
• 申請（專利權）人: 北京放射性核素實驗室
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;G01T1/40
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 楊亞婷

技術領域

本發明涉及一種提高γ射線峰探測靈敏度的能譜處理方法，屬低水平放射性γ能譜分析范疇，尤其是能提高高基線本底下弱γ峰的檢出靈敏度。

背景技術

γ能譜法是一種無損分析方法，可同時測量樣品中的多種核素。γ譜儀把能量范圍劃分為許多道，不同能量的射線放入不同的道中，橫坐標為道數(通過能量刻度也可轉換成射線能量)，縱坐標為計數，每道計數即是能譜中該能量射線的個數。γ射線和物質相互作用有幾種效應：光電效應、康普頓效應、電子對效應，光電效應會使γ射線全部能量沉積到探測器，那么會在能譜中產生一個特定峰，稱為全能峰，康普頓散射會在能譜中產生一個連續的區域，稱為康普頓本底。

測量時，低能γ射線特征峰總是在高能γ射線峰康普頓本底上，尤其是對于含有多種多能核素的樣品，康普頓本底很高，這就造成了樣品中核素探測靈敏度下降。目前，通常采用反康普頓γ譜儀系統降低康普頓本底，但對于有級聯符合關系的多能核素，在抑制康普頓本底的同時，還會降低γ射線特征峰的計數。如果能僅降低康普頓本底而不減小γ射線特征峰的計數，無疑會提高樣品的探測靈敏度。

發明內容

本發明目的是提供一種提高γ射線峰探測靈敏度的能譜處理方法，其解決了現有高基線康普頓本底下弱γ峰檢出技術難題，可提高γ射線峰探測靈敏度。

本發明的技術解決方案是：

一種提高γ射線峰探測靈敏度的能譜處理方法，其特殊之處在于：其包括以下步驟：

1】使用蒙特卡羅程序理論模擬干擾核素的γ能譜；

2】根據模擬的干擾核素γ能譜，將模擬譜中每道計數相對于干擾核素j的某γ峰全能峰計數進行歸一，得到歸一后的模擬譜每道計數：

Ri=NiSAjS]]>

式中，i為道址，s代表模擬譜；

3】將樣品譜中干擾核素j對應的γ峰的全能峰計數和歸一后的模擬譜每道計數相乘得到和樣品譜相關的干擾核素γ能譜，則干擾核素γ能譜每道計數為

NiR=Ri.AjE;]]>

4】將樣品譜與干擾核素γ能譜按比例相減，得到扣除核素j干擾后的樣品譜，扣除干擾樣品譜每道計數N_i為

Ni=NiE-CRF.NiR=NiE-CRF.NiS.AjE/AjS]]>

式中，為樣品譜每道計數；CRF為扣除比例，即扣除因子，CRF≤1；

5】依據上述步驟，將對待分析γ射線產生干擾的γ射線依次進行其康普頓散射的扣除。