[發明專利]一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置及校準方法

在審

• 申請號: 201410831540.4
• 申請日: 2014-12-29
• 公開（公告）號: CN104516348A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 劉亮
• 申請（專利權）人: 貴州航天計量測試技術研究所
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 商小川

1.一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置，其特征在于：包括射頻仿真轉臺角位置校準模塊，射頻仿真轉臺角速率校準模塊，射頻陣列式目標喇叭位置校準模塊，所述射頻仿真轉臺角位置校準模塊、射頻仿真轉臺角速率校準模塊和射頻陣列式目標喇叭位置校準模塊的數據信息通過數據采集裝置傳輸至上位機。

2.根據權利要求1所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置，其特征在于：所述射頻仿真轉臺角位置校準模塊包括多面棱體和自準直儀，所述多面棱體固定連接在射頻仿真轉臺的臺面上，與射頻仿真轉臺同軸，所述光自準直儀對準多面棱體反射鏡面中心上。

3.根據權利要求1所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的速率校準裝置，其特征在于：所述射頻仿真轉臺角速率校準模塊包括圓環光柵，所述圓環光柵包括光柵環和光柵頭，安裝在光柵安裝座上，與射頻仿真轉臺的臺面相連接，與射頻仿真轉臺同軸，所述光柵頭對準光柵環。

4.根據權利要求1所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置，其特征在于：所述射頻陣列式目標喇叭位置校準模塊包括全站儀，所述全站儀對準目標喇叭。

5.根據權利要求2所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置，其特征在于：所述多面棱體采用2等23面棱體和分辨率為0.1秒的光電自準直儀。

6.根據權利要求3所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置，其特征在于：所述光柵安裝座包括光柵環法蘭（12）和光柵頭法蘭（11），所述光柵環法蘭（12）固定連接在芯軸（13）上，所述芯軸（13）固定連接在旋轉座接頭（14）上，所述光柵頭法蘭（11）通過軸承（15）連接在芯軸（13）上，通過防塵罩（17）固定連接在固定支架（16）上。

7.采用1～6中所述的任一一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置的校準方法，其特征在于：包括射頻仿真轉臺角位置校準方法、射頻仿真轉臺角速率校準方法和射頻陣列式目標喇叭位置校準方法。

8.如權利要求7所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置的校準方法，其特征在于：所述射頻仿真轉臺角位置校準方法，包括多面棱體和自準直儀組成的射頻仿真轉臺角位置校準模塊，所述多面棱體固定連接在射頻仿真轉臺的臺面上，與射頻仿真轉臺同軸所述光自準直儀對準多面棱體上，固定在固定支撐座上，并將其與連接有上位機的數據采集裝置相連接，其步驟包括如下：

（1）將自準直儀對準多面棱體的第1面，記錄自準直儀的讀數；

（2）根據多面棱體的角度，將射頻仿真轉臺順時針旋轉相應的角度，記錄自準直儀讀數；

（3）重復步驟（1）和（2）將所有多面棱體的所有面檢測完畢，記錄相應面的自準直儀讀數；

（4）達到起始檢測面時，逆時針旋轉射頻仿真轉臺，檢測完多面棱體的所有面，并記錄相應的自準直儀讀數；

（5）最后將上位機接收的數據利用校準軟件進行數據處理，實現對射頻仿真角位置參數的校準。

9.如權利要求7所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置的校準方法，其特征在于：所述射頻仿真轉臺角速率校準方法，包括圓環光柵，所述圓環光柵包括光柵環和光柵頭，安裝在光柵安裝座上，與射頻仿真轉臺相連接，所述光柵頭對準光柵環，并將其連接到與連接有上位機的數據采集裝置相連接，上位機與數據采集裝置通過無線發射接收模塊或網線連接，其步驟包括如下：當射頻仿真轉臺運動時，時基電路立即開始計時，同時測角裝置記錄角速率校準裝置轉動的角度，通過數據采集與處理系統記錄和分析數據，得到角速率參數指標，與射頻仿真轉臺輸入的角速率參數指標進行比較，實現對射頻仿真轉臺角速率參數的校準。

10.如權利要求7所述的一種用于射頻尋的半實物仿真系統的校準裝置的校準方法，其特征在于：所述射頻陣列式目標喇叭位置校準方法，包括全站儀，所述全站儀對準目標喇叭，并將其連接到與連接有上位機的數據采集裝置相連接，其步驟包括如下：通過對陣列式目標喇叭角度和距離的測量，記錄相應的數據，將上位機接收的數據，通過數據分析及處理，得到陣列的中心及各個喇叭之間的位置和角度關系，實現對射頻陣列式目標的校準。