[發明專利]三維成像流式細胞儀裝置

有效

• 申請號: 201410831263.7
• 申請日: 2015-08-04
• 公開（公告）號: CN104502255A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 劉英;李燦;李淳;王健;郭幫輝;張建忠;孫強;趙建
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所 22210
• 代理人: 陶尊新

1.三維成像流式細胞儀裝置，所述裝置包括樣品進樣單元(100)、第一光源(201)、第二光源(202)和第三光源(203)，其特征是，通過兩套成像流式系統同步對運動的待測樣品進行兩個方向的成像，獲得最終的三維圖像；

所述兩套成像流式系統結構相同，每套成像流式系統包括測速-對焦單元和成像單元；

一個方向的成像流式系統的成像過程為：樣品進樣單元(100)保持待測樣品勻速單個、并排的通過成像檢測區域，第二光源(202)側向照明待測樣品，側向散射光經過第一成像單元(400a)中的第一顯微物鏡(401a)進入第一測速-對焦單元(300a)，獲得待測樣品的運動速度和離焦量，實現對第一TDI?CCD(404a)和第一顯微物鏡(401a)的反饋控制；同時，第二光源(202)作為暗場或熒光激發光源，第三光源(203)作為明場光源，待測樣品的散射光和熒光信號經過第一顯微物鏡(401a)、第一測速-對焦單元(300a)中的第一二向色鏡(301a進入第一成像單元(400a)，獲得待測樣品的明場、暗場和熒光圖像；

另一個方向的成像流式系統的成像過程為：第二光源(202)側向照明待測樣品，側向散射光經過第二成像單元(400b)中的第二顯微物鏡(401b)進入第二測速-對焦單元(300b)，獲得待測樣品的運動速度和離焦量，實現對第二TDI?CCD(404b)和第二顯微物鏡(401b)的反饋控制；同時，第二光源(202)作為暗場或熒光激發光源，第一光源(201)作為明場光源，待測樣品的散射光和熒光信號經過第二顯微物鏡(401b)、第二測速-對焦單元中的第二二向色鏡(301b)進入第二成像單元(400b)，獲得待測樣品的明場、暗場和熒光圖像；

對待測樣品在兩個方向上同步獲得的明場、暗場和熒光圖像進行處理，獲得三維圖像。

2.根據權利要求1所述的三維成像流式細胞儀裝置，其特征在于，所述第一成像單元(400a)還包括第一多光譜分光鏡組(402a)、第一成像物鏡(403a)和第一光電成像傳感器(404a)；第一測速-對焦單元(300a)還包括第一分光鏡(302a)、第一聚焦鏡組(303a)、第一光柵(304a)、第一光電探測器(305a)、第二聚焦鏡組(306a)、第二光柵(307a)和第二光電探測器(308a)；

所述側向散射光經過第一顯微物鏡(401a)、第一二向色鏡(301a)和第一分光鏡(302a)分為兩束散射光，一束散射光經第一聚焦鏡組(303a)、第一光柵(304a)后由第一光電探測器(305a)接收；另一束散射光經第二聚焦鏡組(306a)和第二光柵(307a)后由光第二電探測器(308a)接收，根據第一光電探測器(305a)和第二光電探測器(308a)接收散射光的強度和頻率，獲得待測樣品的運動速度和離焦量，實現對第一TDI?CCD(404a)和顯微物鏡的反饋控制；同時，第二光源(202)作為暗場或熒光激發光源，第三光源(203)作為明場光源，待測樣品的散射光和熒光信號經過第一顯微物鏡(401a)、第一多光譜分光鏡組(402a)和第一成像物鏡(403a)，第一TDI?CCD(404a)得到待測樣品的明場、暗場和熒光圖像。

3.根據權利要求1所述的三維成像流式細胞儀裝置，其特征在于，所述第二成像單元(400b)還包括第二多光譜分光鏡組(402b)、第二成像物鏡(403b)和第二光電成像傳感器(404b)；第二測速-對焦單元(300b)還包括第二分光鏡(302b)、第三聚焦鏡組(303b)、第三光柵(304b)、第三光電探測器(305b)、第四聚焦鏡組(306b)、第四光柵(307b)和第四光電探測器(308b)；

所述側向散射光經過第二顯微物鏡(401b)、第二二向色鏡(301b)和第二分光鏡(302b)分為兩束散射光，一束散射光經第三聚焦鏡組303b、第三光柵(304b)后由第三光電探測器(305b)接收；另一束散射光經第四聚焦鏡組(306b)和第四光柵(307b)后由光第四電探測器(308b)接收，根據第三光電探測器(305b)和第四光電探測器(308b)接收散射光的強度和頻率，獲得待測樣品的運動速度和離焦量，實現對第一TDI?CCD(404b)和顯微物鏡的反饋控制；同時，第二光源(202)作為暗場或熒光激發光源，第一光源(201)作為明場光源，待測樣品的散射光和熒光信號經過第二顯微物鏡(401b)、第二多光譜分光鏡組(402b)和第二成像物鏡(403b)，第二TDI?CCD(404b)得到待測樣品的明場、暗場和熒光圖像。