[發明專利]碳化硅質量檢測的方法

有效

• 申請號: 201410829147.1
• 申請日: 2014-12-25
• 公開（公告）號: CN104535603A
• 公開（公告）日: 2015-04-22
• 發明（設計）人: 于琨;楊雪飛
• 申請（專利權）人: 光為綠色新能源股份有限公司
• 主分類號: G01N25/14
• 分類號: G01N25/14
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 鄭小粵

1.一種碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，包括碳化硅粒度檢測及碳化硅潔凈度檢測，其中，

所述碳化硅粒度檢測包括以下步驟：

取第一預設質量的第一待測碳化硅樣品及第二預設質量的純凈水；

在室溫條件下將所取的第一待測碳化硅樣品和純凈水放入到帶刻度的量筒中，并充分攪拌第一預設時間；

停止攪拌，并記錄量筒中的液體的初始液位；

每隔第二預設時間記錄一次量筒中固液分離界面的高度，直至所述固液分離界面穩定后得到最終固液分離液位；

將所述最終固液分離液位和所述初始液位作比值，得到第一結果；

判斷所述第一結果是否大于等于預設值，若是，則所述第一待測碳化硅樣品粒度合格，若否，則所述第一待測碳化硅樣品粒度不合格；

且所述第二預設質量大于等于所述第一預設質量的三倍；

所述碳化硅潔凈度檢測包括以下步驟：

取第三預設質量的第二待測碳化硅樣品及第四預設質量的純凈水；

將所取的第二待測碳化硅樣品及純凈水放入到容器中攪拌均勻；

將攪拌均勻的溶液煮沸第三預設時間后冷卻到室溫；

查看冷卻后是否有結團狀物質吸附于容器內壁，若是，則所述第二待測碳化硅樣品的潔凈度不合格；

其中所述第四預設質量大于等于所述第三預設質量的三倍。

2.根據權利要求1所述的碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，所述第一預設質量為20-25克，所述第二預設質量為100+5克。

3.根據權利要求1所述的碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，所述第一預設時間為2-3分鐘。

4.根據權利要求1所述的碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，所述第二預設時間為30秒。

5.根據權利要求2所述的碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，所述第三預設質量與所述第一預設質量相等，所述第四預設質量與所述第二預設質量相等。

6.根據權利要求1所述的碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，所述第三預設時間為3分鐘。

7.根據權利要求1至6任一項所述的碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，所述碳化硅潔凈度檢測還包括以下步驟：

在所述第三預設時間內查看上層液面是否有大量泡沫出現，若是，則所述第二待測碳化硅樣品的潔凈度不合格。

8.根據權利要求7所述的碳化硅質量檢測的方法，其特征在于，所述碳化硅潔凈度檢測還包括以下步驟：

將冷卻后的溶液放置、沉淀；

沉淀后查看容器中的上層清液是否呈現黑色，若是，則所述第二待測碳化硅樣品不合格。