[發(fā)明專利]通過單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷實(shí)現(xiàn)采樣率設(shè)置的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410828512.7 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104460470A | 公開(公告)日: | 2015-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱炬;王傳才;毛翌春;朱文星;韓國華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所 |
| 主分類號(hào): | G05B19/042 | 分類號(hào): | G05B19/042 |
| 代理公司: | 蚌埠鼎力專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 34102 | 代理人: | 張建宏 |
| 地址: | 233006 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通過 單片機(jī) 系統(tǒng) 定時(shí)器 中斷 實(shí)現(xiàn) 采樣率 設(shè)置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及高精度采樣信號(hào)發(fā)生領(lǐng)域,具體地說涉及一種通過單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷實(shí)現(xiàn)采樣率設(shè)置的方法。
背景技術(shù)
在對(duì)交流信號(hào)的時(shí)域采樣設(shè)計(jì)中一般采用高精度的外部晶振作為采樣的基頻,通過分頻或混頻來獲得其他采樣頻率。這樣做的好處是頻率設(shè)置范圍寬,頻率穩(wěn)定性好,但硬件的成本開銷較大,系統(tǒng)復(fù)雜程度也比較高。對(duì)于一個(gè)低成本、資源配置較簡單的單片機(jī)系統(tǒng)來說實(shí)現(xiàn)過于復(fù)雜。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種操作簡單、運(yùn)行成本低的通過單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷實(shí)現(xiàn)采樣率設(shè)置的方法。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:通過單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷實(shí)現(xiàn)采樣率設(shè)置的方法,包括以下步驟:
選用ADuC841單片機(jī)系統(tǒng),該系統(tǒng)外接有提供工作頻率的外部晶體,外部晶體頻率為11.0592MHz,通過ADuC841單片機(jī)系統(tǒng)內(nèi)部的定時(shí)器T0或定時(shí)器T2進(jìn)行采樣率設(shè)置;
在通過定時(shí)器T0或定時(shí)器T2進(jìn)行采樣率設(shè)置時(shí),定時(shí)器T0或定時(shí)器T2的工作方式均選用方式1,通過對(duì)定時(shí)器T0或定時(shí)器T2的計(jì)數(shù)寄存器TH、TL設(shè)定計(jì)數(shù)初值來選擇定時(shí)采樣頻率,計(jì)數(shù)寄存器TH、TL設(shè)定好計(jì)數(shù)初值后,即可在定時(shí)器T0或定時(shí)器T2中斷產(chǎn)生時(shí)啟動(dòng)采樣程序,以達(dá)到設(shè)置采樣率的目的;
定義計(jì)數(shù)初值為LH,LH的具體算法如下:
T=1/fosc;
N=1/(F*T);
LH=10000H-MH;
所述fosc為外部晶體頻率、T為單片機(jī)系統(tǒng)的機(jī)器周期、F為所需定時(shí)采樣頻率、N為定時(shí)器的計(jì)數(shù)值,M為將N轉(zhuǎn)換為十六進(jìn)制后的值;
對(duì)于定時(shí)器T0,在設(shè)定計(jì)數(shù)初值時(shí)需對(duì)計(jì)數(shù)初值LH減去軟件裝載時(shí)間A,A=Δt*106,Δt為示波器上讀取的實(shí)際定時(shí)采樣頻率與所需定時(shí)采樣頻率之間的時(shí)間差距,單位為秒。
為簡潔描述起見,以下本發(fā)明所述的通過單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷實(shí)現(xiàn)采樣率設(shè)置的方法簡稱為本方法。
本方法利用單片機(jī)的內(nèi)部定時(shí)器中斷產(chǎn)生所需要的采樣頻率,通過軟件方式來實(shí)現(xiàn)一定范圍內(nèi)的采樣率設(shè)置。由于單片機(jī)系統(tǒng)的工作頻率是由外部晶體決定的,因此單片機(jī)系統(tǒng)的工作時(shí)鐘能夠確定下來,通過設(shè)置定時(shí)器的計(jì)數(shù)個(gè)數(shù)就可以用來發(fā)生相應(yīng)的定時(shí)中斷處理時(shí)鐘周期,利用單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷處理來進(jìn)行相應(yīng)頻率的采樣處理,就得到了可以在一定范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整的采樣頻率設(shè)置。
從上述技術(shù)方案可知,本方法只需使用到極小的硬件開銷來實(shí)現(xiàn)較為準(zhǔn)確的采樣頻率設(shè)置,因此其運(yùn)行成本低,而且操作簡單。
附圖說明
圖1是本發(fā)明通過單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷實(shí)現(xiàn)采樣率設(shè)置的方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述:
參見圖1。
通過單片機(jī)系統(tǒng)的定時(shí)器中斷實(shí)現(xiàn)采樣率設(shè)置的方法,包括以下步驟:
選用ADuC841單片機(jī)系統(tǒng),該系統(tǒng)外接有提供工作頻率的外部晶體,外部晶體頻率為11.0592MHz,通過ADuC841單片機(jī)系統(tǒng)內(nèi)部的定時(shí)器T0或定時(shí)器T2進(jìn)行采樣率設(shè)置;
在通過定時(shí)器T0或定時(shí)器T2進(jìn)行采樣率設(shè)置時(shí),定時(shí)器T0或定時(shí)器T2的工作方式均選用方式1,通過對(duì)定時(shí)器T0或定時(shí)器T2的計(jì)數(shù)寄存器TH、TL設(shè)定計(jì)數(shù)初值來選擇定時(shí)采樣頻率,計(jì)數(shù)寄存器TH、TL設(shè)定好計(jì)數(shù)初值后,即可在定時(shí)器T0或定時(shí)器T2中斷產(chǎn)生時(shí)啟動(dòng)采樣程序,以達(dá)到設(shè)置采樣率的目的;
定義計(jì)數(shù)初值為LH,LH的具體算法如下:
T=1/fosc;
N=1/(F*T);
LH=10000H-MH;
所述fosc為外部晶體頻率、T為單片機(jī)系統(tǒng)的機(jī)器周期、F為所需定時(shí)采樣頻率、N為定時(shí)器的計(jì)數(shù)值,M為將N轉(zhuǎn)換為十六進(jìn)制后的值;
對(duì)于定時(shí)器T0,在設(shè)定計(jì)數(shù)初值時(shí)需對(duì)計(jì)數(shù)初值LH減去軟件裝載時(shí)間A,A=Δt*106,Δt為示波器上讀取的實(shí)際定時(shí)采樣頻率與所需定時(shí)采樣頻率之間的時(shí)間差距,單位為秒。
由于定時(shí)器T0與定時(shí)器T2的計(jì)數(shù)初值在每個(gè)計(jì)數(shù)中斷產(chǎn)生后都需要重新設(shè)置,但定時(shí)器T0與T2的初值裝載方式有所不同,定時(shí)器T2是硬件自動(dòng)進(jìn)行初值裝載,裝載時(shí)間可以忽略不計(jì),而定時(shí)器T0是采用軟件裝載方式,裝載時(shí)間會(huì)造成設(shè)定頻率不準(zhǔn)確,因此在實(shí)際設(shè)置中,在設(shè)定計(jì)數(shù)初值時(shí)需對(duì)LH減去軟件裝載時(shí)間A。
應(yīng)當(dāng)理解本文所述的例子和實(shí)施方式僅為了說明,本領(lǐng)域技術(shù)人員可根據(jù)它做出各種修改或變化,在不脫離本發(fā)明的精神實(shí)質(zhì)的情況下,都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所,未經(jīng)中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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