[發明專利]一種工件孔的圓心位置度校檢方法有效
| 申請號: | 201410828402.0 | 申請日: | 2014-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN104567673A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發明(設計)人: | 劉耀光;鄭鋼;于濤 | 申請(專利權)人: | 蘇州優譜德精密儀器科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 李廣 |
| 地址: | 215100 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 工件 圓心 位置 度校檢 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種工件孔的圓心位置度校檢方法。
背景技術
現代機械加工和制造行業的發展,機械產品結構越來越復雜,產品上的孔的質量要求也相應提高,孔的位置度直接影響到產品的質量。隨著工業體系的發展,對位置度要求及精度越來越高,測量方法與手段也不斷提升。目前主要是通過三坐標測量儀對被測產品表面進行數據點掃描、采集數據點,以獲得被測產品在空間范圍內的三坐標,從而獲得產品上孔的位置度。
但是三坐標測量儀成本較高且不能批量進行測量,使得企業生產成本較高;為降低成本,有采用芯棒配合測量法,即根據被測孔的設計參數,制作相應的芯棒,然后使用儀器對芯棒進行測量而間接獲得孔的相關數據,該測量方法雖然成本較低,但是測量精度較低,且不具備較好適應性,因為孔的尺寸變化多樣,一棒配一孔的配套芯棒數量較大,管理成本較高,因此,實用性不強。。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種更加方便的,用于測量工件上孔的位置度的方法。
為解決上述問題,本發明提供了一種工件孔的圓心位置度校檢方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)將工件放置在校檢平臺上,校檢平臺底部放置一深色輔助板;
(2)對定位孔進行定位,其包括:
(2.1)在所述定位孔正下方設置一光信號接收器,
(2.2)第一機械手帶動光信號發射器從原點出發,向所述定位孔方向移動,所述光信號發射器移動到所述定位孔正下方時,光信號發射器發出的直線光穿過所述定位孔并照射在所述光信號接收器上,此時所述光信號接收器向所述第一機械手發出停止命令,記錄此時所述第一機械手的坐標;
(3)對工件孔進行定位,其包括:
(3.1)第二機械手帶動光線探測儀以及數據分析儀從原點出發,向工件孔方向移動;
(3.2)所述工件孔與所述輔助板間產生色差,所述光線探測器運動到所述工件孔邊緣時,獲取到反射光斑,控制所述第二機械手停止運動,記錄此時所述第二機械手的第一坐標,同樣的方式,獲得工件孔的邊緣上其他的兩個坐標,并且記錄為第二坐標和第三坐標;
(4)數據分析儀器分析:
(4.1)通過第一直線將第一坐標點和第二坐標點連接,通過第二直線將第二坐標點和第三坐標點連接,
(4.2)作出第一直線的中垂線以及第二直線的中垂線,兩個中垂線的交與一點;
(4.3)獲得該交點的坐標;
(5)獲得定位孔與工件孔的實際中心距,并將其與定位孔和工件孔的標準中心距進行對比。
作為本發明的進一步改進,所述光信號發射器和光信號接收器分別為紅外線發射器和紅外線接收器。
本發明的有益效果在于,本發明解決了背景技術中存在的缺陷,方法簡單,易操作、成本低、實用性強、精度高,可單獨測量一個孔的位置度,也可批量測量一個工件中多個孔的位置度。
具體實施方式
下面對本發明的具體實施方式作進一步詳細的描述。
包括以下步驟:
(1)將工件放置在校檢平臺上,校檢平臺底部放置一深色輔助板;
(2)對定位孔進行定位,其包括:
(2.1)在所述定位孔正下方設置一光信號接收器,
(2.2)第一機械手帶動光信號發射器從原點出發,向所述定位孔方向移動,所述光信號發射器移動到所述定位孔正下方時,光信號發射器發出的直線光穿過所述定位孔并照射在所述光信號接收器上,此時所述光信號接收器向所述第一機械手發出停止命令,記錄此時所述第一機械手的坐標(X0,Y0);
(3)對工件孔進行定位,其包括:
(3.1)第二機械手帶動光線探測儀以及數據分析儀從原點出發,向工件孔方向移動;
(3.2)所述工件孔與所述輔助板間產生色差,所述光線探測器運動到所述工件孔邊緣時,獲取到反射光斑,控制所述第二機械手停止運動,記錄此時所述第二機械手的第一坐標(X1,Y1),同樣的方式,獲得工件孔的邊緣上其他的兩個坐標,并且記錄為第二坐標(X2,Y2)和第三坐標(X3,Y3);
(4)數據分析儀器分析:
(4.1)通過第一直線將第一坐標點和第二坐標點連接,通過第二直線將第二坐標點和第三坐標點連接,
(4.2)作出第一直線的中垂線以及第二直線的中垂線,兩個中垂線的交與一點;
(4.3)獲得該交點的坐標;
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