[發明專利]一種基于相關性模型的測試性預計方法有效
| 申請號： | 201410828201.0 | 申請日： | 2014-12-25 |
| 公開（公告）號： | CN105786678B | 公開（公告）日： | 2018-09-25 |
| 發明（設計）人： | 時旺;孫日芬;楊清偉 | 申請（專利權）人： | 北京電子工程總體研究所 |
| 主分類號： | G06F11/34 | 分類號： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人： | 張雪梅 |
| 地址： | 100854 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 相關性 模型 測試 預計 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于相關性模型的測試性預計方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)對產品進行故障模式和影響分析，得到產品的故障模式與影響分析表；
根據產品的故障模式和影響分析表，確定每種故障模式之間的影響和信息傳遞關系；
(2)劃分產品的功能和結構，建立產品的功能框圖；根據功能框圖中功能流向、故障模式之間的信息傳遞關系及各組成部件之間的相互連接關系，得到產品的信號流圖，所述信號流圖是設備的功能信息流所經過的有關組成部件之間的連接圖；
(3)確定產品用于故障檢測用的測試點的位置，根據各測試點的位置和步驟(2)中信號流圖建立測試點和故障模式之間的相關性關系，得到產品的相關性模型；
(4)根據步驟(3)建立的相關性模型中所示的測試點與故障模式之間的相關性關系，建立相關性矩陣；
(5)分析每個測試點對應的測試向量的故障檢測和故障隔離的權重，確定故障檢測和故障隔離過程所需的測試點，并對相關性矩陣進行處理，根據處理結果計算產品的故障檢測率和故障隔離率。
2.根據權利要求1所述的基于相關性模型的測試性預計方法，其特征在于：步驟(3)所述測試點的位置根據機內測試、外部測試設備測試或人工觀察確定。
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