[發(fā)明專利]一種預(yù)測(cè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)發(fā)生故障的方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410822384.5 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105787242B | 公開(公告)日: | 2019-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孔偉康;李定;李強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/22 | 分類號(hào): | G06F11/22 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 馮艷蓮 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 預(yù)測(cè) 非易失性 存儲(chǔ) 介質(zhì) 發(fā)生 故障 方法 裝置 | ||
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種預(yù)測(cè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)發(fā)生故障的方法及裝置:針對(duì)數(shù)據(jù)中心的至少兩個(gè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)中的任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì),分別執(zhí)行:計(jì)算任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的狀況值,狀況值用于表征任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的運(yùn)行狀況;確定狀況值小于與任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)對(duì)應(yīng)的初始預(yù)設(shè)故障門限值時(shí),預(yù)測(cè)任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)將發(fā)生故障;狀況值不同的任意兩個(gè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)分別對(duì)應(yīng)的初始預(yù)設(shè)故障門限值不同,在該方案中,狀況值不同的非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)分別對(duì)應(yīng)不同的初始預(yù)設(shè)故障門限值,即狀況值不同的非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)分別對(duì)應(yīng)不同的報(bào)警門檻,因此,提高了預(yù)測(cè)出的發(fā)生故障的非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的準(zhǔn)確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種預(yù)測(cè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)發(fā)生故障的方法及裝置。
背景技術(shù)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)越來(lái)越重要,保證數(shù)據(jù)可靠性也有非常重要的意義。硬盤仍然是儲(chǔ)存數(shù)據(jù)最常用的存儲(chǔ)介質(zhì),廣泛應(yīng)用于各類數(shù)據(jù)中心中,因此,硬盤故障的預(yù)測(cè)成為現(xiàn)今保證數(shù)據(jù)可靠性的重要手段,其已經(jīng)慢慢成為數(shù)據(jù)中心管理軟件中的重要組成部分。數(shù)據(jù)中心通過(guò)檢測(cè)各個(gè)硬盤的運(yùn)行狀況,當(dāng)硬盤失效或即將失效時(shí)啟用硬盤報(bào)警并隔離,然后開始數(shù)據(jù)重構(gòu)。
目前的DFP(Disk Failure Prediction,硬盤故障預(yù)測(cè))技術(shù)是判斷硬盤的某些指標(biāo)是否達(dá)到預(yù)設(shè)門限值,若不達(dá)標(biāo),則發(fā)出報(bào)警,認(rèn)為硬盤將要故障。而硬盤廠商為了減少返修率,一般設(shè)置的報(bào)警門檻非常低,導(dǎo)致硬盤整體的故障預(yù)測(cè)率極低,但是,若參考硬盤廠商的報(bào)警門檻的話,預(yù)測(cè)出的硬盤發(fā)生故障的準(zhǔn)確度較低。為了提高預(yù)測(cè)硬盤故障的準(zhǔn)確度,使用硬盤的數(shù)據(jù)中心會(huì)重新設(shè)定報(bào)警門檻,從而提高預(yù)測(cè)硬盤發(fā)生故障的準(zhǔn)確度。
上述方法中數(shù)據(jù)中心的所有硬盤的報(bào)警門檻都相同,但是,數(shù)據(jù)中心的硬盤的狀況是不同的,有些硬盤使用時(shí)間較長(zhǎng),有些硬盤使用時(shí)間較短,因此,上述方法仍然存在準(zhǔn)確度較低的缺陷。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種預(yù)測(cè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)發(fā)生故障的方法及裝置,用以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的預(yù)測(cè)硬盤發(fā)生故障的準(zhǔn)確度較低的缺陷。
本發(fā)明實(shí)施例提供的具體技術(shù)方案如下:
第一方面,提供一種預(yù)測(cè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)發(fā)生故障的方法,包括:
針對(duì)數(shù)據(jù)中心的至少兩個(gè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)中的任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì),分別執(zhí)行:
計(jì)算所述任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的狀況值,所述狀況值用于表征所述任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的運(yùn)行狀況;
確定所述狀況值小于與所述任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)對(duì)應(yīng)的初始預(yù)設(shè)故障門限值時(shí),預(yù)測(cè)所述任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)將發(fā)生故障;
狀況值不同的任意兩個(gè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)分別對(duì)應(yīng)的初始預(yù)設(shè)故障門限值不同。
結(jié)合第一方面,在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,預(yù)測(cè)所述任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)將發(fā)生故障之后,還包括:
確定預(yù)測(cè)出的將發(fā)生故障的所有非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的總數(shù)目;
判定確定的所述所有非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的總數(shù)目小于或者等于所述數(shù)據(jù)中心的熱備非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)目時(shí),使用所述熱備非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)中的熱備非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)接替所述預(yù)測(cè)出的將發(fā)生故障的所有非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的工作;
接替所述預(yù)測(cè)出的將發(fā)生故障的所有非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)工作的熱備非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)目與所述所有非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的總數(shù)目相同。
結(jié)合第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式,在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,確定預(yù)測(cè)出的將發(fā)生故障的所有非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的總數(shù)目之后,還包括:
判定確定的所述所有非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的總數(shù)目大于所述數(shù)據(jù)中心的熱備非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)目時(shí),針對(duì)所述任意一非易失性存儲(chǔ)介質(zhì),分別執(zhí)行:
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G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
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