[發明專利]永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置及方法

在審

• 申請號: 201410820467.0
• 申請日: 2014-12-25
• 公開（公告）號: CN105785291A
• 公開（公告）日: 2016-07-20
• 發明（設計）人: 金國順;王進東;楊小軍;饒曉雷;孫其會;王瀅
• 申請（專利權）人: 北京中科三環高技術股份有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 北京航忱知識產權代理事務所(普通合伙) 11377
• 代理人: 陳立航

1.一種永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置，包括：

加熱箱體(1)，用于對測試樣品(4)進行加熱；

磁屏蔽(2)，位于所述加熱箱體的內部，用于將所述磁屏蔽內部 的測試樣品與所述磁屏蔽外部隔絕；以及

磁通測量線圈(3)，位于所述磁屏蔽的內部。

2.根據權利要求1所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，還包括氣流循環部(12)，所述氣流循環部位于所述加 熱箱體的外部，與所述加熱箱體的內部流體連通。

3.根據權利要求1所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，還包括溫度傳感器(5)，所述溫度傳感器位于所述磁通 測量線圈的內部。

4.根據權利要求3所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，還包括測溫控溫部(9)，所述測溫控溫部位于所述加熱 箱體的外部，與所述溫度傳感器一起對所述加熱箱體內部的溫度進行 控制。

5.根據權利要求1所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，所述磁屏蔽呈相對于測試樣品對稱的形狀，測試樣品位 于所述磁屏蔽的中心位置。

6.根據權利要求1所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，所述磁屏蔽由隔熱材料安裝在所述加熱箱體內。

7.根據權利要求1所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，所述磁屏蔽的周面上具有通風孔。

8.根據權利要求1所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，所述磁通測量線圈是亥姆赫茲線圈，測試樣品位于所述 亥姆赫茲線圈的中心位置。

9.根據權利要求1所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，還包括磁通積分器(10)，位于所述加熱箱體的外部， 用于測量測試樣品的磁通或磁偶極矩。

10.根據權利要求9所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置， 其特征在于，測量所述磁通測量線圈在不同溫度下的電阻值，并且根 據測量結果對不同溫度下測量得到的磁通值進行修正。

11.一種永磁材料磁通溫度穩定性測量方法，使用根據權利要求 1～10中任一項所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量裝置進行測量， 包括：

步驟1：測量測試樣品在第一溫度(T1)時的磁通或磁偶極矩 j₁；

步驟2：使測試樣品升溫到第二溫度(T2)，測量測試樣品在第二 溫度時的磁通或磁偶極矩j₂；

步驟3：使測試樣品升溫到第三溫度(T3)，測量測試樣品在第三 溫度時的磁通或磁偶極矩j₃；

步驟4：使測試樣品降溫到第二溫度，再次測量測試樣品在第二 溫度時的磁通或磁偶極矩j₂′；

步驟5：使測試樣品降溫到第一溫度，再次測量測試樣品在第一 溫度時的磁通或磁偶極矩j₁′；

由所述步驟1～所述步驟5的測量結果，計算永磁材料的磁通溫 度穩定性參數。

12.根據權利要求11所述的永磁材料磁通溫度穩定性測量方法， 其特征在于，在所述步驟2和所述步驟3升溫時，先快速升溫，然后 慢速升溫，從而避免溫度過沖。

13.根據權利要求11所述的永磁材料溫度磁通穩定性測量方法， 其特征在于，使用下式計算樣品由第一溫度(T1)升至第三溫度(T3) 的磁通不可逆溫度損失百分比δ₁：

δ₁＝[(j₁-j₁′)/j₁]×100％。