[發明專利]一種LED光源芯片缺陷檢測方法及其裝置

有效

• 申請號: 201410820264.1
• 申請日: 2014-12-20
• 公開（公告）號: CN104568965B
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 單忠頻;陳偉明;康茂;李燕橋;黃昌浩
• 申請（專利權）人: 佛山市多譜光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01R31/02
• 代理公司: 深圳市盈方知識產權事務所(普通合伙) 44303
• 代理人: 周才淇;朱曉江

本發明公開了一種LED光源芯片缺陷檢測方法及其裝置，對封裝前的LED光源進行缺陷檢測，可以檢測出LED芯片是否點不亮或芯片缺失，甚至是漏電；整個檢測過程都是自動化控制，檢測效率大大提高，降低了檢測成本，避免人工檢測傷害工人眼睛；使用高精度CCD拍攝、處理，極大地提高了檢測效率；自動統計檢測信息數據，方便大數據的比對生產管理。

技術領域

本發明涉及LED光源領成型室涉及的是一種LED光源芯片缺陷檢測方法及其裝置。

背景技術

LED光源作為新一代的照明光源與白熾燈等傳統光源相比，具有壽命長、光效高、節能環保等優點，成為近些年來用途極為廣泛的產品，其應用范圍不斷擴大，照明、顯示、醫療等領域都對LED光源在各種環境條件下的表現提出了嚴格的要求。

LED光源通常由多個芯片串并而組成，生產過程中不能完全避免其中有芯片不亮或缺失，從而影響LED光源的光效和芯片壽命。多個芯片串并起來的LED光源在正常工作的恒定電流下發光，通過光色電等參數(如光通量、色坐標、電壓、電流等)檢測是難以判別芯片是否存在缺失或不亮的情況，因為在多組芯片中，單個不亮芯片造成光通量、色坐標、電壓或電流的差異變化是很微小的。當前很多廠家對這種LED光源芯片缺陷采用的檢測方法是人工判斷，用恒定微小電流點亮LED光源(用恒定微小電流點亮為了能清楚看到芯片微弱發光，如果用正常恒定電流點亮，芯片發光很亮，根本無法看到芯片的情況)，然后靠人眼直接觀察芯片是否不亮和芯片是否缺失，甚至芯片是否可能存在漏電(當某個芯片漏電時，在相同微小電流情況下，漏電芯片發光比其他正常芯片是略暗的)，這樣做的缺點是人工成本高，檢測效率低，而且容易對人的眼睛造成傷害。

因此，現有技術還有待于改進和發展。

發明內容

本發明的目的在于提供一種LED光源芯片缺陷檢測方法及其裝置，旨在解決現有的人工檢測LED光源芯片缺陷導致人工成本高，檢測效率低，容易對人眼睛造成傷害的問題。

本發明的技術方案如下：

一種LED光源芯片缺陷檢測裝置，其中，包括機架、自動上料機構、推料機構、傳送機構、檢測機構、自動下料機構和控制器，所述自動上料機構、推料機構、傳送機構、檢測機構、自動下料機構和控制器都設置在機架上，自動上料機構帶動被測LED光源進行上升，推料機構把被測LED光源推送到傳送機構處，傳送機構把被測LED光源傳送到檢測位置，檢測機構對被測LED光源進行缺陷檢測，傳送機構把被測LED光源傳送到自動下料機構處，自動下料機構帶動檢測完畢的被測LED光源下降；所述自動上料機構、推料機構、傳送機構、檢測機構、自動下料機構都與控制器連接，由控制器控制自動運行。

所述的LED光源芯片缺陷檢測裝置，其中，所述自動上料機構包括馬達、料盒、用于支撐料盒的料盒支架、線性模組、原點感應器和限位感應器，所述線性模組包括模組框架、滾珠絲杠，直線導軌和聯軸器，所述直線導軌設置在模組框架上，料盒支架卡合在直線導軌上，馬達通過聯軸器連接滾珠絲杠帶動料盒支架沿直線導軌上下滑動，料盒隨之上下升降；所述料盒設置成前后開放的結構，料盒內設置有多個支撐被測LED光源的卡位；所述原點感應器和限位感應器設置在模組框架上，原點感應器和限位感應器都與控制器連接，原點感應器和限位感應器感應料盒沿直線導軌上下升降的位置，把感應信息反饋到控制器；所述馬達與控制器連接，控制器通過原點感應器和限位感應器感應料盒的上下升降運動信息控制馬達的啟停；所述自動下料機構的結構與自動上料機構的結構一致。

所述的LED光源芯片缺陷檢測裝置，其中，所述推料機構包括底板、設置在底板上的無桿氣缸、底座和設置在底座上的推桿，所述底座設置在無桿氣缸上，無桿氣缸與電磁閥連接，電磁閥與控制器連接，由控制器控制啟閉，無桿氣缸帶動底座進行往復運動，從而使推桿實現前進后退，把料盒中的被測LED光源推送出去。