[發明專利]VGA信號相位校正方法及裝置

有效

• 申請號: 201410818122.1
• 申請日: 2014-12-24
• 公開（公告）號: CN104503723B
• 公開（公告）日: 2018-01-02
• 發明（設計）人: 李林
• 申請（專利權）人: 北京凱視達科技有限公司
• 主分類號: G06F3/14
• 分類號: G06F3/14;G09G5/00;H04N5/765
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司11205
• 代理人: 楊貝貝,黃健

1.一種VGA信號相位校正方法，其特征在于，包括：

將一個采樣周期分成N個采樣相位，N≥2；

分別依據各采樣相位對目標圖像進行采樣獲得采樣圖像；

計算各采樣圖像對應的導數累加和；

將所述導數累加和中最小值對應的所述采樣圖像的采樣相位作為最差采樣相位；

對所述最差采樣相位相移180度獲得最佳采樣相位；

其中，所述計算各采樣圖像對應的導數累加和包括：

依據所述采樣圖像各行中各相鄰像素點的像素值差值獲得一階導數矩陣；

依據所述一階導數矩陣各行中各相鄰矩陣元素值的差值獲得二階導數矩陣；

將所述一階導數矩陣的所有矩陣元素值相加獲得第一累加和sum(D1)，將所述二階導數矩陣的所有矩陣元素值相加獲得第二累加和sum(D2)；

依據所述第一累加和sum(D1)和所述第二累加和sum(D2)獲得所述導數累加和C＝sum(D1)*weight1+sum(D2)*weight2，weight1,weight2為常數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述依據所述采樣圖像各行中各相鄰像素點的像素值差值獲得一階導數矩陣包括：

依據所述采樣圖像同一行中所述相鄰像素點的像素值差值的絕對值獲得一階導數D1(i,j),i≥1,j≥1，其中，D1(i,j)＝abs(P(i,j)-P(i,j+1))，P(i,j)為所述采樣圖像第i行第j列像素點的像素值，P(i,j+1)為所述采樣圖像第i行第j+1列像素點的像素值，abs表示取絕對值；

將各一階導數D1(i,j)構成所述一階導數矩陣D1。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述依據所述一階導數矩陣各行中各相鄰矩陣元素值的差值獲得二階導數矩陣包括：

依據所述一階導數獲得二階導數D2(i,j),i≥1,j≥1，其中，D2(i,j)＝abs(D1(i,j)-D1(i,j+1))，D1(i,j)為所述一階導數矩陣D1的第i行第j列矩陣元素值，D1(i,j+1)為所述一階導數矩陣D1的第i行第j+1列矩陣元素值；

將各二階導數D2(i,j)構成所述二階導數矩陣D2。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述將一個采樣周期分成N個采樣相位包括：

將所述一個采樣周期平均分成N個采樣相位；

所述對所述最差采樣相位相移180度獲得最佳采樣相位包括：

將所述最差采樣相位減去N/2個采樣相位或者增加N/2個采樣相位后獲得最佳采樣相位。

5.一種VGA信號相位校正裝置，其特征在于，包括：

分解模塊，用于將一個采樣周期分成N個采樣相位，N≥2；

采樣模塊，用于分別依據各采樣相位對目標圖像進行采樣獲得采樣圖像；

計算模塊，用于計算各采樣圖像對應的導數累加和；

判斷模塊，用于將所述導數累加和中最小值對應的所述采樣圖像的采樣相位作為最差采樣相位；

相移模塊，用于對所述最差采樣相位相移180度獲得最佳采樣相位；

其中，所述計算模塊包括：

一階導數矩陣計算單元，用于依據所述采樣圖像各行中各相鄰像素點的像素值差值獲得一階導數矩陣；

二階導數矩陣計算單元，依據所述一階導數矩陣各行中各相鄰矩陣元素值的差值獲得二階導數矩陣；

累加和計算單元，用于將所述一階導數矩陣的所有矩陣元素值相加獲得第一累加和sum(D1)，將所述二階導數矩陣的所有矩陣元素值相加獲得第二累加和sum(D2)；依據所述第一累加和sum(D1)和所述第二累加和sum(D2)獲得所述導數累加和C＝sum(D1)*weight1+sum(D2)*weight2，weight1,weight2為常數。

6.根據權利要求5所述的VGA信號相位校正裝置，其特征在于，所述一階導數矩陣計算單元具體用于依據所述采樣圖像同一行中所述相鄰像素點的像素值差值的絕對值獲得一階導數D1(i,j),i≥1,j≥1，其中，D1(i,j)＝abs(P(i,j)-P(i,j+1))，P(i,j)為所述采樣圖像第i行第j列像素點的像素值，P(i,j+1)為所述采樣圖像第i行第j+1列像素點的像素值，abs表示取絕對值；將各一階導數D1(i,j)構成所述一階導數矩陣D1。