[發明專利]硬盤參數獲取方法在審
| 申請號： | 201410817512.7 | 申請日： | 2014-12-19 |
| 公開（公告）號： | CN104536857A | 公開（公告）日： | 2015-04-22 |
| 發明（設計）人： | 任少華 | 申請（專利權）人： | 上海理工大學 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海德昭知識產權代理有限公司 31204 | 代理人： | 郁旦蓉 |
| 地址： | 200093 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 硬盤 參數 獲取 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種硬盤參數獲取方法，通過操作終端對與RAID卡相連接的至少兩個硬盤的參數分別進行獲取，其特征在于，具體包括以下步驟：
(1)所述操作終端基于DCDB發送方式發送硬盤查詢命令至所述RAID卡中的硬盤控制器中；
(2)所述硬盤控制器基于所述硬盤查詢命令查詢每個所述硬盤的接口型號和設備ID號；
(3)基于預定規則通過查詢到的所述硬盤的接口型號和設備ID號判斷出所述硬盤是否支持SCSI協議；
(4)當判斷為是時，所述操作終端基于所述SCSI協議通過所述RAID卡發送參數查詢命令至所述硬盤；
(5)所述硬盤響應所述參數查詢命令從而向所述操作終端反饋參數包；以及
(6)解析所述參數包從而得到所述參數。
2.根據權利要求1所述的硬盤參數查詢方法，其特征在于
其中，所述硬盤為SAS硬盤或者支持所述SCSI協議的SATA硬盤。
3.根據權利要求1所述的硬盤參數查詢方法，其特征在于：
其中，所述參數包含：硬盤缺陷數目、硬盤讀寫次數、硬盤讀寫的可恢復數和不可恢復錯誤數。
4.根據權利要求1所述的硬盤參數查詢方法，其特征在于，還包括以下步驟：
(7)所述操作終端保存所述參數，作為第一對比參數。
(8)預定間隔時間再次獲取所述參數作為第二對比參數。
(9)通過將所述第一對比參數與所述第二對比參數進行對比，得到對比信息，基于所述對比信息對所述硬盤進行可靠性評價。
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