[發明專利]去除磁共振彌散張量成像噪聲的方法和系統

有效

• 申請號: 201410816820.8
• 申請日: 2014-12-23
• 公開（公告）號: CN104586394A
• 公開（公告）日: 2015-05-06
• 發明（設計）人: 彭璽;梁棟;劉新;鄭海榮
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;G06T5/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種去除磁共振彌散張量成像噪聲的方法，其包括：

圖像數據獲取步驟：獲取磁共振彌散加權圖像所對應的K空間數據；

去噪步驟：基于磁共振彌散加權成像模型和采樣噪聲的高斯分布性質，利用彌散加權圖像的稀疏性，采用最大后驗概率估計的方法由所述K空間數據獲得每一個空間位置所對應的去噪后的彌散張量矩陣；

彌散參數計算步驟：基于所述去噪后的彌散張量矩陣，獲得彌散參數圖。

2.根據權利要求1所述的去除磁共振彌散張量成像噪聲的方法，其特征在于，所述去噪步驟包括：

基于磁共振彌散加權成像模型和采樣噪聲的高斯分布性質，利用彌散加權圖像的稀疏性，采用最大后驗概率估計的方法構建去噪函數模型，所述去噪函數模型參見如下述公式(1)：

???????公式(1)

其中，表示彌散張量矩陣的估計值；R(·)是作用于彌散加權圖像ρ_m的稀疏約束函數，λ為相應的正則化參數；d_m為第m個彌散加權圖像所對應的K空間數據；F表示傅立葉編碼矩陣；表示第m個彌散加權圖像ρ_m，其中，I₀表示無彌散加權的參考圖像，為第m個彌散加權圖像的相位，b是彌散加權因子，g_m是第m個彌散加權圖像所對應的彌散梯度向量g_m＝(g_xm,g_ym,g_zm)^T；

利用所述K空間數據，求解所述公式(1)，獲得每一個空間位置所對應的去噪后的彌散張量矩陣。

3.根據權利要求2所述的去除磁共振彌散張量成像噪聲的方法，其特征在于，所述稀疏約束函數約束每個彌散加權圖像的稀疏性。

4.根據權利要求2所述的去除磁共振彌散張量成像噪聲的方法，其特征在于，所述稀疏約束函數約束彌散加權圖像的聯合稀疏性。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述稀疏約束函數調用以下公式計算獲得：

R(ρm)=||Ψρm||1]]>

其中，Ψ為運算符、表示稀疏變換，‖·‖₁表示L₁范數，ρ_m表示第m個彌散加權圖像。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述稀疏約束函數調用以下公式計算獲得：

ΣmR(ρm)=ΣiΣm||ψiρm||22]]>

其中，Ψ為運算符、表示稀疏變換，ψ_i表示Ψ的第i列，‖·‖₂表示L₂范數，ρ_m表示第m個彌散加權圖像。