[發(fā)明專利]基板處理裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410811437.3 | 申請日: | 2014-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN104733352A | 公開(公告)日: | 2015-06-24 |
| 發(fā)明(設計)人: | 宋炳奎;金勁勛;金龍基;申良湜;金蒼乭;申昌勛;金恩德 | 申請(專利權)人: | 株式會社EUGENE科技 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 中原信達知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 王偉;安翔 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 處理 裝置 | ||
1.一種基板處理裝置,包括:
腔室,所述腔室提供內(nèi)部空間,在所述內(nèi)部空間中,基板通過通道進行傳遞,并且在所述基板上進行處理,所述腔室具有將氣體供應至所述基板的供應口;以及
基座,所述基座安裝在所述內(nèi)部空間中,并且所述基座包括對所述基板進行加熱的加熱區(qū)域和對從所述供應口供應的氣體進行預加熱的預加熱區(qū)域。
2.根據(jù)權利要求1所述的基板處理裝置,其中,所述預加熱區(qū)域的溫度比所述加熱區(qū)域的溫度高。
3.根據(jù)權利要求1所述的基板處理裝置,其中,所述加熱區(qū)域的形狀對應于所述基板的形狀,并且
所述預加熱區(qū)域在與氣體的流動方向相垂直的方向上的長度大于所述基板的直徑。
4.根據(jù)權利要求1所述的基板處理裝置,其中,所述加熱區(qū)域的中心偏離所述基座的中心,以設置成更靠近所述通道而不是更靠近所述供應口。
5.根據(jù)權利要求1或4所述的基板處理裝置,其中,所述基座包括:
子基座,所述子基座具有長方體形狀,并且包括偏離所述基座的中心的開口,所述子基座提供所述預加熱區(qū)域;以及
主基座,所述主基座插入到所述開口中,并提供所述加熱區(qū)域。
6.根據(jù)權利要求5所述的基板處理裝置,其中,所述子基座的熱膨脹系數(shù)低于所述主基座的熱膨脹系數(shù)。
7.根據(jù)權利要求1所述的基板處理裝置,進一步包括排氣口,所述排氣口設置在所述腔室中的如下部分處:該部分與所述腔室的設置所述供應口的部分相對,并且所述排氣口將穿過所述基板的氣體排出。
8.根據(jù)權利要求1所述的基板處理裝置,其中,所述腔室提供具有長方體形狀的所述內(nèi)部空間,并且所述腔室的一側(cè)上設置有所述通道,另一側(cè)上設置有所述供應口。
9.根據(jù)權利要求1所述的基板處理裝置,其中,所述加熱區(qū)域設置在所述基板下方,并且所述預加熱區(qū)域設置在所述加熱區(qū)域和所述供應口之間。
10.根據(jù)權利要求9所述的基板處理裝置,其中,所述預加熱區(qū)域設置在所述加熱區(qū)域和所述供應口之間,以允許氣體在所述加熱區(qū)域之前穿過所述預加熱區(qū)域。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社EUGENE科技;,未經(jīng)株式會社EUGENE科技;許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410811437.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:步進石英舟
- 下一篇:半導體器件及其制造方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





