[發明專利]一種磁力顯微鏡差分磁力顯微成像方法

在審

• 申請號: 201410809108.5
• 申請日: 2015-08-04
• 公開（公告）號: CN104502635A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 王作斌;王瑩;劉勁蕓;侯麗偉;董莉彤;宋正勛;翁占坤
• 申請（專利權）人: 長春理工大學
• 主分類號: G01Q60/50
• 分類號: G01Q60/50
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251
• 代理人: 成金玉;孟卜娟

1.一種磁力顯微鏡差分磁力成像方法，其特征在于：采用外加磁場對同一探針進行兩次相反方向的磁化并對樣品的同一位置進行掃描，用圖像匹配對兩幅圖像進行準確定位，然后將獲得準確位置信息的兩幅磁力像進行差分運算，排除背景力對磁力像的干擾，獲得高質量的磁力像。

2.根據權利要求1所述一種磁力顯微鏡差分磁力成像方法，其特征在于：所述的磁力顯微鏡差分磁力成像需要的外加磁場采用的是一對磁極，探針被放入由一對磁極產生的磁場中進行磁化，完成第一次掃描后將磁極方向逆轉，對探針進行反向磁化。

3.根據權利要求1所述一種磁力顯微鏡差分磁力成像方法，其特征在于：所述的磁力顯微鏡差分磁力成像采用差分運算方法，用相反磁化方向的探針對樣品進行掃描獲得磁力像進行的差分運算。

4.根據權利要求1所述一種磁力顯微鏡差分磁力成像方法，其特征在于：所述的磁力顯微鏡差分磁力成像排除的背景力包括范德華力和包括靜電力在內的不受磁化方向逆轉所影響的力。

5.根據權利要求1所述一種磁力顯微鏡差分磁力成像方法，其特征在于：所述的磁力顯微鏡差分磁力成像的高質量表現在信噪比的提高。

6.根據權利要求1所述一種磁力顯微鏡差分磁力成像方法，其特征在于：所述的磁力顯微鏡差分磁力成像的高質量表現在對比度的改善。