[發明專利]偏光顯微鏡的自動偏光裝置及其使用方法

在審

• 申請號: 201410808680.X
• 申請日: 2014-12-23
• 公開（公告）號: CN104503072A
• 公開（公告）日: 2015-04-08
• 發明（設計）人: 何海波
• 申請（專利權）人: 成都西圖科技有限公司
• 主分類號: G02B21/24
• 分類號: G02B21/24;G02B21/00
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司11340
• 代理人: 郭霞

技術領域

本發明涉及偏光顯微鏡輔助裝置，尤其涉及一種偏光顯微鏡的自動偏光裝置及其使用方法。

背景技術

偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡，在地質學等理工科專業中有重要應用，凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的必備儀器，可供廣大用戶做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。現在大部分偏光顯微鏡的起振片和檢振片在使用時均固定角度，不能夠轉動，而是通過轉動載玻片，從而改變載玻片上的物質在偏振光下的角度，再通過計算機或者人眼進行識別，識別度較低，同時不能夠進行二次檢驗。

發明內容

本發明的目的就在于為了解決上述問題而提供一種偏光顯微鏡的自動偏光裝置及其使用方法。

本發明通過以下技術方案來實現上述目的：

一種偏光顯微鏡的自動偏光裝置，包括基座底板、基座支架、下偏光組件和上偏光組件，所述基座支架豎直設置在所述基座底板的一側，所述偏光顯微鏡通過固定裝置安裝在所述基座底板上，所述下偏光組件安裝在所述基座支架的中下部，所述上偏光組件安裝在所述基座支架的上部。

具體地，所述上偏光組件包括上偏光架殼體、上偏光片和上偏光驅動系統，所述上偏光架殼體的第一端設置在所述基座支架內，所述上偏光架殼體的第二端設置有第一透光孔，所述上偏光片通過上偏光片輪安裝在所述第一透光孔內，所述上偏光驅動系統設置在所述上偏光架殼體的第一端內部，且與所述上偏光片輪連接，所述上偏光架殼體上設置有上偏光架蓋板。

具體地，所述上偏光架殼體的第二端插入所述偏光顯微鏡的檢振片插口，所述上偏光驅動系統包括上偏光步進電機、上偏光控制器、上傳動輪、第一上同步帶和第二上同步帶，所述上偏光控制器和所述上偏光步進電機通過控制器支架和電機支架固定在所述上偏光架殼體的上側面，所述上傳動輪的轉軸與所述上偏光控制器連接，所述上傳動輪的輪體通過第一上同步帶與所述上偏光步進電機的轉矩輸出軸連接，所述上傳動輪的輪體通過第二上同步帶與所述上偏光片輪連接，所述上偏光控制器的控制信號輸出端與所述上偏光步進電機連接

進一步，所述上偏光架殼體的第二端還設置有第二透光孔，所述第二透光孔位于所述第一透光孔的外端，所述第二透光孔內設置有減光片。

具體地，所述上偏光驅動系統還包括單光步進電機、光電開關、電機連接板和直線滑軌，所述直線滑軌設置在所述電機連接板的上表面，所述上偏光架殼體的下表面設置有導軌滑塊，所述導軌滑塊設置在所述直線滑軌內，所述單光步進電機與所述電機連接板的下表面固定連接，所述上偏光架殼體的底面側邊上設置有齒條，所述單光步進電機的轉矩輸出軸上設置有齒輪，所述齒輪與所述齒條嚙合，所述光電開關設置在所述直線滑軌的外端，所述光電開關的信號輸出端與所述上偏光控制器的信號輸入端連接，所述單光步進電機的控制信號輸入端與所述上偏光控制器的控制信號輸出端連接。

具體地，所述下偏光組件包括下偏光架殼體、下偏光片和下偏光驅動系統，所述下偏光架殼體的第一端設置在所述基座支架內，所述下偏光架殼體的第二端設置有第二透光孔，所述下偏光片通過下偏光片輪安裝在所述第三透光孔內，所述下偏光驅動系統設置在所述上偏光架殼體的第一端內部，且與所述下偏光片輪連接，所述下偏光架殼體上設置有下偏光架蓋板。

具體地，所述下偏光驅動系統包括下偏光步進電機、下偏光控制器和下傳動輪，所述下偏光控制器通過固定套安裝在所述下偏光架殼體的上表面上，所述下偏光步進電機安裝在所述下偏光架的下表面上，所述下傳動輪的轉軸分別與所述下偏光步進電機的轉矩輸出軸和所述下偏光控制器連接，所述下傳動輪的轉輪通過下同步帶與所述下偏光片輪連接，所述下偏光控制器的控制信號輸出端與所述下偏光步進電機的控制信號輸入端連接。

一種用于偏光顯微鏡的自動偏光裝置的使用方法，包括以下步驟：

A1：將所述偏光顯微鏡安裝到所述基座底板上，并通過所述固定螺釘固定，使所述下偏光組件的第二端位于所述偏光顯微鏡的起振片的位置處，同時將上偏光組件的第二端插入所述偏光顯微鏡的檢振片插口處。

A2：通過所述上偏光控制器和所述下偏光控制器控制所述上偏光步進電機和所述下偏光步進電機的轉動，調節所述下偏光片和所述上偏光片之間的角度，使其偏振方向互相垂直。

A3：當進行正交偏振光鏡檢時跳轉至步驟B1，當進行單偏振光鏡檢時跳轉至步驟B2或B3。