[發明專利]一種復合碼防偽檢測裝置及其檢測方法

在審

• 申請號: 201410806591.1
• 申請日: 2014-12-23
• 公開（公告）號: CN105788062A
• 公開（公告）日: 2016-07-20
• 發明（設計）人: 鄭華楨;邱志平
• 申請（專利權）人: 福建省星微盾電子科技有限公司
• 主分類號: G07D7/04
• 分類號: G07D7/04;G07D7/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種復合碼防偽檢測裝置，其特征在于：包括殼體、設于殼體上的檢測磁頭、光碼識別傳感器、與檢測磁頭連接的第一MCU、與光碼識別傳感器連接的第二MCU、與第一MCU及第二MCU均連接的主控器、與主控器連接的存儲設備及供電電源，還包括一與檢測磁頭及光碼識別傳感器均連接并帶動檢測磁頭及光碼識別傳感器移動的傳動機構。

2.根據權利要求1所述的一種復合碼防偽檢測裝置，其特征在于：所述傳動機構包括支架、設于支架上的電機、與電機連接的絲桿及用于固定檢測磁頭及光碼識別傳感器的固定座，所述固定座設于殼體上,所述電機與第一MCU連接。

3.根據權利要求2所述的一種復合碼防偽檢測裝置，其特征在于：所述支架上還設有一導向軸，所述固定座通過螺帽套設于絲桿外且該固定座卡設于導向軸上，可沿著導向軸左右移動。

4.根據權利要求1所述的一種復合碼防偽檢測裝置，其特征在于：所述存儲設備為TF卡、SD卡、Flash存儲器或NAND閃存。

5.根據權利要求1所述的一種復合碼防偽檢測裝置，其特征在于：還包括一液晶屏及喇叭，該液晶屏及喇叭均與主控器連接。

6.根據權利要求1所述的一種復合碼防偽檢測裝置，其特征在于：所述第一MCU和第二MCU為同一MCU。

7.一種復合碼防偽檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:

A、檢測磁頭對準被檢測標識，主控器控制MCU，并進一步控制電機帶動檢測磁頭快速掃過標識；

B、檢測磁頭獲取磁碼信息，并通過MCU傳送給主控器，主控器根據反饋信息確定所有光碼的位置；

C、主控器控制MCU控制電機回轉，并帶動光碼識別傳感器回走，依次到達光碼的位置，同時主控器控制MCU依次將設置于標識上的光碼均讀取，并將每次讀取的光碼的信息均傳送給主控器；

D、主控器分析獲得的磁碼信息和光碼信息，從存儲設備中調用用戶相關信息，并在提示裝置上提示相關信息。

8.根據權利要求7所述的一種復合碼防偽檢測方法,其特征在于:所述步驟D中存儲設備為TF卡、SD卡、Flash存儲器或NAND閃存。

9.根據權利要求7所述的一種復合碼防偽檢測方法,其特征在于:所述步驟D中的提示裝置為液晶顯示屏或者語音播放器。