[發(fā)明專利]一種紅外焦平面探測(cè)器組件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410806279.2 | 申請(qǐng)日： | 2014-12-22 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN104535193A | 公開（公告）日： | 2015-04-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王春生;周立慶;虞孝舜;東海杰;孟令超 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十一研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01J5/00 | 分類號(hào)： | G01J5/00;G01J5/08 |
| 代理公司： | 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人： | 田衛(wèi)平 |
| 地址： | 100015*** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 紅外 平面 探測(cè)器 組件 | ||
1.一種紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，包括：成像光學(xué)部件、冷屏、杜瓦，其中，
所述成像光學(xué)部件包括物鏡和冷光闌，集成在所述杜瓦內(nèi)部；
所述物鏡設(shè)置在所述杜瓦的窗口，或者，所述物鏡粘接在所述冷屏上；
所述冷光闌設(shè)置在所述冷屏上；其中，所述冷屏和所述杜瓦的窗座是所述成像光學(xué)部件的支撐件。
2.如權(quán)利要求1所述的紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，
所述杜瓦的窗口采用平板窗片；
所述物鏡粘接在所述冷屏上，以保證其正確的光學(xué)位置，并通過所述冷屏的傳導(dǎo)將所述物鏡制冷到穩(wěn)定溫度。
3.如權(quán)利要求1所述的紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，所述物鏡包括物鏡1、物鏡2、物鏡3；
所述杜瓦的窗口采用所述物鏡1，以擴(kuò)大光學(xué)系統(tǒng)的視場(chǎng)角；
所述物鏡2、所述物鏡3粘接在所述冷屏上，以保證其正確的光學(xué)位置，并通過所述冷屏的傳導(dǎo)將物鏡制冷到穩(wěn)定溫度。
4.如權(quán)利要求3所述的紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，
所述成像光學(xué)部件還包括低溫濾光片，粘接在所述冷屏上，以保證其正確的光學(xué)位置，并通過所述冷屏的傳導(dǎo)將物鏡制冷到穩(wěn)定溫度。
5.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，所述紅外焦平面探測(cè)器組件還包括：紅外成像光學(xué)元件，封裝在所述杜瓦的窗座內(nèi)的真空環(huán)境中。
6.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，所述冷光闌是孔徑光闌，以保證100％的冷光闌效率。
7.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，所述紅外焦平面探測(cè)器組件還包括：所述紅外探測(cè)器，粘接在冷頭上，以保證其正確的光學(xué)位置。
8.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的紅外焦平面探測(cè)器組件，其特征在于，所述物鏡的設(shè)計(jì)與所述杜瓦的外光學(xué)系統(tǒng)相匹配設(shè)計(jì)。
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