[發(fā)明專利]一種提高電化學分析儀器測量精度的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410802601.4
• 申請日: 2014-12-22
• 公開（公告）號: CN104483361A
• 公開（公告）日: 2015-04-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉佳;唐慧強;吳榮坤;朱培德
• 申請（專利權(quán)）人: 南京信息工程大學
• 主分類號: G01N27/26
• 分類號: G01N27/26
• 代理公司: 南京眾聯(lián)專利代理有限公司 32206
• 代理人: 顧進

1.一種提高電化學分析儀器測量精度的方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟一、將由軟件模擬得到的數(shù)據(jù)R₀[X₀,X₁…X_n]作為參考樣本，以測量時間為X軸，測量數(shù)據(jù)為Y軸，將樣本擬合成平面曲線S₁；

步驟二、定義S₁中曲率為K_b(K_b0≤K_b≤K_b1)的曲線段為基線段，曲率為K_r(K_r0≤K_r≤K_r1)的曲線段為反應段；

步驟三、將使用電化學分析儀器測得的數(shù)據(jù)R[X₀,X₁…X_n]擬合為平面曲線S₂；

步驟四、在曲線S₂上選取n個測量點，計算其曲率K[K₀,K₁…K_n]，將K分別和K_b，K_r對比，若K∈K_b，那么該測量點屬于基線段，若K∈K_r，則該測量點屬于反應段；則曲線S₂分成m段R’₀…R’_m，m<n；

步驟五、對于屬于基線段的S₂的曲線段R’[X₀,X₁…X_m]，使用加權(quán)平均滑動法進行平滑處理，所述加權(quán)平均滑動的表達式為：

λ(xi)=Σj=i-(l-1)/2i+(l-1)/2ω(j)xjΣj=i-(l-1)/2i+(l-1)/2ω(j)i=0,1,2...l]]>

其中l(wèi)為滑動窗口的寬度，l為奇數(shù)，ω為加權(quán)平均函數(shù)；

對于屬于反應段的S₂的曲線段R”[X₀,X₁…X_m]，使用卷積平滑法進行平滑處理，所述卷積平滑法的表達式為：

λ(xi)=q*δ=liml→∞Σj=0lq(j)*δ(i-j)i=0,1,2...l]]>

其中，l表示滑動窗口寬度，l趨向于∞，q為單位樣值函數(shù)，δ為延遲函數(shù)；

步驟六、重復步驟四到步驟五，對R’₀…R’_m逐一進行判斷和平滑處理，從而消除測量數(shù)據(jù)中的噪聲和異常值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高電化學分析儀器測量精度的方法，其特征在于，所述電化學分析儀器為硫氮元素分析儀或微庫侖分析儀。