[發明專利]一種紫外差分氣體分析儀的數據處理方法及系統

在審

• 申請號: 201410799145.2
• 申請日: 2014-12-19
• 公開（公告）號: CN104458630A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 甄長飛;黃云彪
• 申請（專利權）人: 重慶川儀自動化股份有限公司
• 主分類號: G01N21/33
• 分類號: G01N21/33
• 代理公司: 北京信遠達知識產權代理事務所(普通合伙) 11304
• 代理人: 魏曉波

1.一種紫外差分氣體分析儀的數據處理方法，其特征在于，包括：

獲取暗光譜數據；

獲取被測氣體的源光譜數據；

以所述暗光譜數據和所述源光譜數據作為參數對所述源光譜數據進行非線性補償修正，并得到目標光譜數據；

利用差分吸收光譜方法計算所述目標光譜數據對應的被測氣體的偽濃度值；

根據階梯式判斷方法計算所述偽濃度值對應的被測氣體的濃度值。

2.根據權利要求1所述的紫外差分氣體分析儀的數據處理方法，其特征在于，所述對所述源光譜數據進行非線性補償修正，并得到目標光譜數據具體包括：

利用公式x＝S_P-D_P得到所述源光譜數據和所述暗光譜數據的差值，

其中，x為差值；S_P為所述源光譜數據；D_P為所述暗光譜數據；

利用所述差值和非線性補償校正系數計算所述源光譜數據對應的修正量；

利用公式R₁＝R_P+D_P計算所述源光譜數據對應的修正結果，

其中，R_P為修正量；R₁為修正結果；

利用公式R＝αR₁+βR₂計算所述目標光譜數據。

其中，R為目標光譜數據；R₂的計算方法與R₁的計算方法相同，R₁和R₂是相鄰兩次非線性補償修正得到的修正結果；α+β＝1，α＞0β＞0。

3.根據權利要求1所述的紫外差分氣體分析儀的數據處理方法，其特征在于，所述階梯式判斷方法為2階階梯式判斷方法。

4.根據權利要求3所述的紫外差分氣體分析儀的數據處理方法，其特征在于，所述2階階梯式判斷方法具體包括：

利用所述差分吸收光譜方法計算第一標準氣體的第一偽濃度值；

將所述第一偽濃度值作為第一比較點的橫坐標；

將所述第一標準氣體的第一標準濃度值作為所述第一比較點的縱坐標；

計算所述第一比較點與原點確定的直線的第一斜率；

利用所述差分吸收光譜方法計算第二標準氣體的第二偽濃度值；

將所述第二偽濃度值作為第二比較點的橫坐標；

將所述第二標準氣體的第二標準濃度值作為所述第二比較點的縱坐標；

計算所述第二比較點與所述原點確定的直線的第二斜率；

判斷所述偽濃度值是否大于所述第一偽濃度值；

若所述偽濃度值小于所述第一偽濃度值，則利用公式y＝k₁×D計算所述被測氣體的濃度值；

若所述偽濃度值大于所述第一偽濃度值，則利用公式y＝k₂×D計算所述被測氣體的濃度值；

其中，y為所述被測氣體的濃度值；k₁為所述第一斜率；k₂為所述第二斜率；D為所述偽濃度值。

5.根據權利要求4所述的紫外差分氣體分析儀的數據處理方法，其特征在于，所述第一標準濃度值為198ppm，所述第二標準濃度值為400ppm。

6.一種紫外差分氣體分析儀的數據處理系統，其特征在于，包括：

暗光譜數據獲取單元，用于獲取暗光譜數據；

源光譜數據獲取單元，用于獲取被測氣體的源光譜數據；

修正單元，用于以所述暗光譜數據和所述源光譜數據作為參數對所述源光譜數據進行非線性補償修正，并得到目標光譜數據；

偽濃度值計算單元，用于利用差分吸收光譜方法計算所述目標光譜數據對應的被測氣體的偽濃度值；

濃度值計算單元，用于根據階梯式判斷方法計算所述偽濃度值對應的被測氣體的濃度值。