[發明專利]CT系統中投影圖像的重建方法及裝置在審
| 申請號: | 201410798803.6 | 申請日: | 2014-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN105787973A | 公開(公告)日: | 2016-07-20 |
| 發明(設計)人: | 田明;林茂先;江東;王瑜;曲洪巖;張建軍 | 申請(專利權)人: | 合肥美亞光電技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00;G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 張大威 |
| 地址: | 230088 安徽省合肥*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ct 系統 投影 圖像 重建 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及醫療器械技術領域及工業檢測領域,尤其涉及一種CT系統中投影圖像的重 建方法及裝置。
背景技術
CT(ComputedTomography,計算機斷層成像技術)是一種從外部投影數據重建物體內 部結構圖像的技術,其不僅可以用于醫學為人類診斷疾病,還可以效力于工業來檢驗核心 零件的質量。CT還被大量地應用于動物試驗以推動生物學和藥學的發展,其更被安裝在機 場和港口來保護人身和社會的安全。
目前,在CT圖像中高密度的物體,如金屬植入物、外殼固定器以及口腔填充物等,由 于其對X射線的衰減系數遠高于人體組織,所以X射線通過這些物體時會急劇衰減,從而導 致對應的投影數據失真,進而會在CT成像時造成嚴重的金屬偽影(如表現為明暗相間的條 狀影像或陰影)。由此,這些偽影降低了斷層圖像中高密度物體周圍的清晰度,使圖像質量 嚴重下降,以致嚴重影響臨床影像診斷的效果和工業領域的高精度檢測。
發明內容
本發明的目的旨在至少在一定程度上解決上述的技術問題之一。
為此,本發明的第一個目的在于提出一種CT系統中投影圖像的重建方法。該方法可以 有效地消除高密度物體對CT圖像造成的金屬偽影,提高圖像的清晰度和質量,從而提高臨 床影像診斷的效果和工業領域的高精度檢測。
本發明的第二個目的在于提出一種CT系統中投影圖像的重建裝置。
為了實現上述目的,本發明第一方面實施例的CT系統中投影圖像的重建方法,包括: 對CT系統采集到的投影圖像組進行重建以得到重建之后的第一圖像組;判斷所述第一圖像 組中是否存在高密度物體所對應的待去除圖像組;如果判斷所述第一圖像組中存在所述高 密度物體所對應的所述待去除圖像組,則從所述第一圖像組中分割出所述待去除圖像組以 生成第二圖像組;對所述第二圖像組進行再投影得到再投影后的第二圖像組,并對所述再 投影后的第二圖像組進行重建以生成第三圖像組;以及根據所述待去除圖像組和所述第三 圖像組生成最終重建圖像組。
根據本發明實施例的CT系統中投影圖像的重建方法,可先對CT系統采集到的投影圖 像組進行重建以得到重建之后的第一圖像組,之后可判斷第一圖像組中是否存在高密度物 體所對應的待去除圖像組,如果存在,則從第一圖像組中分割出待去除圖像組以生成第二 圖像組,然后,對第二圖像組進行再投影得到再投影后的第二圖像組,并對再投影后的第 二圖像組進行重建以生成第三圖像組,最后,根據待去除圖像組和第三圖像組生成最終重 建圖像組,有效地消除了高密度物體對CT圖像造成的金屬偽影,提高了圖像的清晰度和質 量,從而提高了臨床影像診斷的效果和工業領域的高精度檢測。
為了實現上述目的,本發明第二方面實施例的CT系統中投影圖像的重建裝置,包括: 第一重建模塊,用于對CT系統采集到的投影圖像組進行重建以得到重建之后的第一圖像 組;判斷模塊,用于判斷所述第一圖像組中是否存在高密度物體所對應的待去除圖像組; 分割模塊,用于在判斷所述第一圖像組中存在所述高密度物體所對應的所示待去除圖像組 時,從所述第一圖像組中分割出所述待去除圖像組以生成第二圖像組;再投影模塊,用于 對所述第二圖像組進行再投影得到再投影后的第二圖像組;第二重建模塊,用于對所述再 投影后的第二圖像組進行重建以生成第三圖像組;以及生成模塊,用于根據所述待去除圖 像組和所述第三圖像組生成最終重建圖像組。
根據本發明實施例的CT系統中投影圖像的重建裝置,可通過第一重建模塊對CT系統 采集到的投影圖像組進行重建以得到重建之后的第一圖像組,判斷模塊判斷第一圖像組中 是否存在高密度物體所對應的待去除圖像組,如果存在,分割模塊則從第一圖像組中分割 出待去除圖像組以生成第二圖像組,再投影模塊對第二圖像組進行再投影得到再投影后的 第二圖像組,第二重建模塊對再投影后的第二圖像組進行重建以生成第三圖像組,生成模 塊根據待去除圖像組和第三圖像組生成最終重建圖像組,有效地消除了高密度物體對CT圖 像造成的金屬偽影,提高了圖像的清晰度和質量,從而提高了臨床影像診斷的效果和工業 領域的高精度檢測。
本發明附加的方面和優點將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明 顯,或通過本發明的實踐了解到。
附圖說明
本發明上述的和/或附加的方面和優點從下面結合附圖對實施例的描述中將變得明顯 和容易理解,其中,
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