[發明專利]集成電路測試系統的多通道對稱校準的方法及其接口轉換裝置

在審

• 申請號: 201410798756.5
• 申請日: 2014-12-19
• 公開（公告）號: CN104535950A
• 公開（公告）日: 2015-04-22
• 發明（設計）人: 周厚平;李軒冕
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七0九研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R15/00
• 代理公司: 武漢河山金堂專利事務所(普通合伙) 42212
• 代理人: 胡清堂;覃波

1.一種集成電路測試系統的多通道對稱校準的方法，其特征在于，以集成電路測試系統校準裝置的校準通道接口數為基準，對集成電路測試系統的通道接口按順序進行分組劃分，使每一組測試通道接口的類型數及每種類型的通道接口數完全一致，同時，每一組測試通道接口的類型排布完全一致，所述校準通道接口依次對每一組測試通道接口進行校準，直至所有測試通道接口都校準完成。

2.根據權利要求1所述的集成電路測試系統的多通道對稱校準的方法，其特征在于，所述每一組測試通道接口中的信號通道接口和信號地通道接口呈交叉排布。

3.根據權利要求2所述的集成電路測試系統的多通道對稱校準的方法，其特征在于，以集成電路測試系統校準裝置的通道接口的尺寸及排布為標準，使集成電路測試系統的通道接口與集成電路測試系統校準裝置的通道接口一致。

4.根據權利要求3所述的集成電路測試系統的多通道對稱校準的方法，其特征在于，以集成電路測試系統校準裝置的通道接口的尺寸及排布為標準，采用接口轉換裝置使集成電路測試系統的通道接口與集成電路測試系統校準裝置的通道接口一致。

5.一種接口轉換裝置，用于實現集成電路測試系統與集成電路測試系統的校正裝置之間的多通道對稱校準，其特征在于，包括與集成電路測試系統校準裝置的通道接口對應設置的彈簧針，和通過與所述集成電路測試系統的通道接口對應設置的對接通道接口組，所述彈簧針與所述對接通道接口組一一對應，且所述對接通道接口組以彈簧針的針數為基準按順序進行分組，每一排對接通道接口組所對應的集成電路測試系統通道接口的類型數、每種類型的通道接口數、通道接口的類型排布均完全一致。

6.根據權利要求5所述的接口轉換裝置，其特征在于，所述集成電路測試系統通過一信號接口轉換集成電路板將所述測試通道接口進行分組，使每一排對接通道接口組所對應的集成電路測試系統通道接口的類型數、每種類型的通道接口數、通道接口的類型排布均完全一致。

7.根據權利要求6所述的接口轉換裝置，其特征在于，所述每一排對接通道接口組所對應的集成電路測試系統的信號通道接口和信號地通道接口呈交叉排布。

8.根據權利要求7所述的接口轉換裝置，其特征在于，所述每一排對接通道接口組以彈簧針的尺寸及排布為標準設置。

9.根據權利要求8所述的接口轉換裝置，其特征在于，所述對接通道接口組旋轉對稱分布排列。

10.根據權利要求9所述的接口轉換裝置，其特征在于，所述彈簧針和對接通道接口組對應矩陣排列。