[發(fā)明專利]基于微波光子混頻技術(shù)的微波源相位噪聲測試方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410796588.6
• 申請日: 2014-12-18
• 公開（公告）號: CN104459360A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張方正;朱登建;潘時龍;周沛
• 申請（專利權(quán)）人: 南京航空航天大學
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26
• 代理公司: 南京瑞弘專利商標事務(wù)所(普通合伙) 32249
• 代理人: 楊曉玲

1.基于微波光子混頻技術(shù)的微波源相位噪聲測試裝置，其特征在于：包括微波源、微波功分器、微波移相器、激光源、第一電光調(diào)制器(1)、光纖、第二電光調(diào)制器(2)、光帶通濾波器、光電探測器、電低通濾波器和FFT分析儀；所述激光源的輸出端連接第一電光調(diào)制器(1)的輸入端，第一電光調(diào)制器(1)的輸出端通過光纖連接第二電光調(diào)制器(2)的輸入端；所述微波源的輸出端與微波功分器的輸入端連接；所述微波功分器有兩個輸出端：其中一個輸出端與第一電光調(diào)制器(1)的驅(qū)動信號輸入端相連接，另一個輸出端和微波移相器輸入端連接；所述微波移相器的輸出端與第二電光調(diào)制器(2)的驅(qū)動信號輸入端連接；沿第二電光調(diào)制器(2)的輸出信號方向依次連接光帶通濾波器、光電探測器、電低通濾波器和FFT分析儀。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于微波光子混頻技術(shù)的微波源相位噪聲測試裝置，其特征在于：所述第一電光調(diào)制器(1)和第二電光調(diào)制器(2)均為寬帶電光調(diào)制器；所述寬帶電光調(diào)制器采用相位電光調(diào)制器或強度調(diào)制器或偏振調(diào)制器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于微波光子混頻技術(shù)的微波源相位噪聲測試裝置，其特征在于：所述微波功分器為寬帶微波功分器。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于微波光子混頻技術(shù)的微波源相位噪聲測試裝置，其特征在于：所述微波移相器為寬帶微波移相器。

5.一種基于微波光子混頻技術(shù)的微波源相位噪聲測試方法，其特征在于：微波源輸出待測微波信號，待測微波信號由微波功分器分成第一微波信號和第二微波信號，其中第一微波信號經(jīng)第一電光調(diào)制器(1)調(diào)制，生成初始調(diào)制光信號；所述初始調(diào)制光信號經(jīng)過光纖延時后進入第二電光調(diào)制器(2)，所述延時為τ；第二微波信號經(jīng)過微波移相器后進入第二電光調(diào)制器(2)，其中調(diào)節(jié)微波移相器使為第二微波信號經(jīng)過的相移量，ω為待測微波信號的角頻率；第二電光調(diào)制器(2)對光纖延時后的初始調(diào)制光信號和經(jīng)過微波移相器后的第二微波信號進行調(diào)制，第二電光調(diào)制器(2)輸出最終的調(diào)制光信號；利用光帶通濾波器對最終的調(diào)制光信號進行濾波；利用光電探測器對光帶通濾波器輸出的光信號進行拍頻；經(jīng)過拍頻后的信號進入電低通濾波器進行濾波；電低通濾波器輸出信號由FFT分析儀采集進行數(shù)據(jù)處理，根據(jù)所得數(shù)據(jù)即可計算得到待測微波信號的相位噪聲。