[發(fā)明專利]一種基于信息熵的集成電路故障診斷方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410796474.1
• 申請(qǐng)日: 2014-12-18
• 公開（公告）號(hào): CN104483620A
• 公開（公告）日: 2015-04-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝永樂(lè);謝暄;李西峰;謝三山;畢東杰;周啟忠;袁太文;盤龍;呂玨;李帥霖
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 電子科技大學(xué);成都工業(yè)學(xué)院
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R31/3193
• 代理公司: 成都賽恩斯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51212
• 代理人: 王璐瑤

1.一種基于信息熵的集成電路故障診斷方法，其特征在于：所述集成電路故障診斷方法步驟如下：

(1)將被測(cè)電路的各個(gè)元件參數(shù)設(shè)置為標(biāo)稱參數(shù)，對(duì)該被測(cè)電路進(jìn)行實(shí)測(cè)或仿真，得到各元件標(biāo)稱參數(shù)下的無(wú)故障被測(cè)電路的輸出電壓值或電流值；

(2)對(duì)步驟(1)中得到的輸出電壓值或電流值采用拉格朗日乘數(shù)法，計(jì)算得

到各元件標(biāo)稱參數(shù)下的無(wú)故障被測(cè)電路輸出電壓或電流的概率密度函數(shù)；

(3)對(duì)步驟(2)中得到的概率密度函數(shù)采用最大似然法，計(jì)算得到各元件標(biāo)稱參數(shù)下的無(wú)故障被測(cè)電路輸出Rényi熵定義公式中的自由參數(shù)α；

(4)根據(jù)步驟(2)中得到的概率密度函數(shù)和步驟(3)中得到的自由參數(shù)α，計(jì)算得到各元件標(biāo)稱參數(shù)下的無(wú)故障被測(cè)電路輸出的Rényi熵值A(chǔ)；

(5)對(duì)未知故障的被測(cè)電路進(jìn)行實(shí)測(cè)，得到未知故障被測(cè)電路的輸出電壓值或電流值；

(6)對(duì)步驟(5)中得到的輸出電壓值或電流值采用拉格朗日乘數(shù)法，計(jì)算得到未知故障被測(cè)電路輸出電壓或電流的概率密度函數(shù)；

(7)對(duì)步驟(6)中得到的概率密度函數(shù)采用最大似然法，計(jì)算得到未知故障被測(cè)電路輸出Rényi熵定義公式中的自由參數(shù)α；

(8)根據(jù)步驟(6)中得到的概率密度函數(shù)和步驟(7)中得到的自由參數(shù)α，計(jì)算得到未知故障被測(cè)電路輸出的Rényi熵值B；

(9)將步驟(4)中得到的各元件標(biāo)稱參數(shù)下的無(wú)故障被測(cè)電路輸出的Rényi熵值A(chǔ)，與步驟(8)中得到的未知故障被測(cè)電路輸出的Rényi熵值B進(jìn)行比較；如果則未知故障的被測(cè)電路中存在故障；如果則未知故障的被測(cè)電路中無(wú)故障。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于信息熵的集成電路故障診斷方法，其特征在于：步驟(3)中的自由參數(shù)α和步驟(7)中的自由參數(shù)α均為Rényi熵定義公式HR(α,f)=11-αln(∫-ωωpα(f)df)]]>中的α。