[發明專利]超長焦距空間相機焦距的精密測量方法

有效

• 申請號: 201410788325.0
• 申請日: 2014-12-17
• 公開（公告）號: CN104515671A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 馬洪濤;金輝;韓冰;李旭;周興義
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所 22210
• 代理人: 陶尊新

1.超長焦距空間相機焦距的精密測量方法，其特征是，該方法由以下步驟實現：

超長焦距空間相機焦距的精密測量方法，該方法由以下步驟實現：

步驟一、采用球徑儀測量4D干涉儀球面標準鏡的曲率半徑，采用鏡面定位儀測量所述4D干涉儀球面標準鏡的透鏡厚度，并根據獲得的曲率半徑及透鏡厚度計算4D干涉儀球面標準鏡的焦距；

步驟二、將所述4D干涉儀球面標準鏡安裝到4D干涉儀上，并將4D干涉儀放置五維調整臺上；

步驟三、采用鏡面定位儀測量基準尺的長度，并將測量長度后基準尺放置在二維調整臺上；

步驟四、將被測相機、平面鏡及基準尺放置在所述4D干涉儀的前方并進行粗調整，并通過步驟二中所述的4D干涉儀的五維調整臺以及平面鏡的調整機構對4D干涉儀及平面鏡精細調整；使被測相機及基準尺的干涉圖在4D干涉儀的探測器上成像；

步驟五、采用四象限分析法計算探測器上的成像，獲得基準尺的像的長度；

步驟六、根據步驟一獲得的4D干涉儀球面標準鏡的焦距，步驟三獲得的基準尺長度以及步驟五獲得的基準尺的像的長度，獲得被測相機的焦距。

2.根據權利要求1所述的超長焦距空間相機焦距的精密測量方法，其特征在于，步驟四中的粗調整指：使4D干涉儀、被測相機以及平面鏡在高度，左右位置相對應。

3.根據權利要求1或2所述的超長焦距空間相機焦距的精密測量方法，其特征在于，步驟四中所述的精細調整，使被測相機的干涉圖在4D干涉儀的探測器上成像，具體過程為：所述4D干涉儀出射的平面波經4D干涉儀球面標準鏡變為球面波，將所述球面波匯聚點調試到被測相機4的焦點處，球面波經被測相機4后以平行光出射到平面鏡11變為平行光，所述平行光經平面鏡11反射后依次經過被測相機4，4D干涉儀9在4D干涉儀的探測器上成像。

4.根據權利要求3所述的超長焦距空間相機焦距的精密測量方法，其特征在于，所述平面鏡的反射面上放置基準尺，平行光經平面鏡11反射后帶有基準尺的長度信息。

5.根據權利要求4所述的超長焦距空間相機焦距的精密測量方法，其特征在于，所述基準尺的長度在400mm±50mm。