[發明專利]具有高精度3D打印功能的坐標測量機有效
| 申請號: | 201410784334.2 | 申請日: | 2014-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN104729439B | 公開(公告)日: | 2018-06-05 |
| 發明(設計)人: | 波·佩特爾松;克努特·西爾克斯;帕斯卡爾·喬迪爾 | 申請(專利權)人: | 赫克斯岡技術中心 |
| 主分類號: | G01B21/00 | 分類號: | G01B21/00;G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 王小東 |
| 地址: | 瑞士赫*** | 國省代碼: | 瑞士;CH |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 生產工具 坐標測量機 打印功能 儀器支架 構建 受控 施放 對準 計算機程序產品 承載 測量傳感器 固定材料 控制儀器 模塊化地 驅動單元 數字模型 附接 支架 移動 | ||
1.一種坐標測量機(10、40、50),該坐標測量機具有至少一個控制單元和一個驅動單元,以用于控制儀器支架(19)相對于基座(12、42)的移動,其中,
●所述儀器支架(19)被構造為承載至少一個測量傳感器(22),并且
●所述坐標測量機(10、40、50)提供表面掃描模式,該表面掃描模式通過借助由所述儀器支架(19)所承載的測量傳感器(22)掃描所述表面來確定表面上至少一個測量點的位置,
其特征在于,
●所述儀器支架(19)此外被構造用于承載生產工具(20、21、21a、21b),所述生產工具(20、21、21a、21b)被構造用于施放和/或固定材料,并且
●所述坐標測量機(10、40、50)提供物體構建模式,該物體構建模式被限定成在所述物體構件模式的范圍內通過根據數字模型數據進行控制,至少
□由所述儀器支架(19)承載的所述生產工具(20、21、21a、21b)能夠被引導,并且
□借助于所述生產工具(20、21、21a、21b),根據每個生產工具位置,能夠以精確定位的方式施放和/或固定材料,
從而使得通過執行所述物體的構建模式,能夠根據所述數字模型數據來構建所述物體(25),由此所述生產工具(20、21、21a、21b)能夠以在所述表面掃描模式的范圍內針對所述測量傳感器(22)所提供的定位精度來引導和定位。
2.根據權利要求1所述的坐標測量機(10、40、50),其特征在于,
所述生產工具(20、21、21a、21b)實施為:
●被構造用于進行材料施放的打印頭(20、21、21a、21b),和/或
●激光發射器,該激光發射器用于發送激光束來固定材料。
3.根據權利要求1或2所述的坐標測量機(10、40、50),其特征在于,
所述生產工具(20)具有粗略施放打印單元(21a)和精細施放打印單元(21b)。
4.根據權利要求1所述的坐標測量機(10、40、50),其特征在于,
●限定的坯料體能夠以相對于基座(12、42)的特定的對準和定位被放置在測量空間內,所述測量空間通過所述儀器支架(19)的移動性來限定,所述物體(25)能夠通過將材料精確定位地施放到坯料體上來構建,
并且/或者
●能夠至少部分地通過執行所述表面掃描模式來產生所述數字模型數據。
5.根據權利要求1所述的坐標測量機(10、40、50),其特征在于,
●所述儀器支架(19)還被實施為用于承載改進工具,并且
●所述坐標測量機(10、40、50)具有物體改進模式,該物體改進模式被限定成,在所述物體改進模式范圍內,能夠借助由所述儀器支架(19)承載的改進工具對物體表面進行受控加工,和/或
●所述生產工具(20)具有:
□所述測量傳感器(22),和/或
□體現為改進單元的所述改進工具,和/或
□冷卻噴嘴,
并且/或者
●所述儀器支架(19)
□被實施為能夠圍繞至少一個軸(A、B、X、Y、Z)樞轉,和/或
□被構造用于同時承載至少所述測量傳感器(22)和所述生產工具(20、21、21a、21b)。
6.根據權利要求1所述的坐標測量機(10、40、50),其特征在于,
所述坐標測量機(10、40、50)具有材料輸送裝置(18、31、32、55),該材料輸送裝置用于提供構建所述物體(25)所用的材料。
7.根據權利要求1所述的坐標測量機(10、40、50),其特征在于,
由所述儀器支架(19)承載的所述生產工具(20、21、21a、21b)能夠被對準。
8.根據權利要求7所述的坐標測量機(10、40、50),其特征在于,
借助于所述生產工具(20、21、21a、21b),根據每個生產工具對準,能夠以精確定位的方式施放和/或固定材料。
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