[發明專利]熱敏電阻線性化校正方法及裝置

在審

• 申請號: 201410782193.0
• 申請日: 2015-08-03
• 公開（公告）號: CN104505202A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 劉君;嵇世卿
• 申請（專利權）人: 深圳市寶安任達電器實業有限公司
• 主分類號: H01C7/02
• 分類號: H01C7/02;H01C7/04
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 任哲夫

1.一種熱敏電阻線性化校正方法，其特征在于：包括步驟，

A)設定最低溫度T1及最高溫度T3，定義檢測溫度范圍T為(T1-T3)；

B)獲取熱敏電阻在溫度范圍內所有阻值集合R；

獲取最低溫度時熱敏電阻的阻值RT1；

獲取中間溫度時熱敏電阻的阻值RT2；

獲取最高溫度時熱敏電阻的阻值RT3；

C)根據公式計算得到理論并聯電阻阻值R1’；

D)獲取實際可用的并聯電阻阻值R1；

E)計算得到熱敏電阻與并聯電阻并聯后的并聯阻值集合R_并＝R1/(1+R1/R)；

F)以二元一次函數y＝kx+b擬合并聯阻值集合；

G)計算并聯阻值集合R_并與二元一次函數y＝kx+b的誤差集合；

H)判斷誤差集合是否超標，是則執行步驟I，否則執行步驟J；

I)改變并聯電阻阻值R1，返回步驟D；

J)將并聯電阻值R1的電阻并聯接于熱敏電阻上使用，并將擬合的二元一次函數存入控制器中。

2.如權利要求1所述的熱敏電阻線性化校正方法，其特征在于：所述步驟A、B之間還包括計算得到溫度范圍的中間溫度T2的步驟，T2＝(T1+T3)/2；

所述步驟B中熱敏電阻在溫度范圍內所有阻值集合R通過計算得到：

R＝10*exp((1/(T+273.15)-1/298.15)*4100)；

所述步驟B中最低溫度時熱敏電阻的阻值RT1通過計算得到：

RT1＝10*exp((1/(T1+273.15)-1/298.15)*4100)；

所述步驟B中中間溫度時熱敏電阻的阻值RT2通過計算得到：

RT2＝10*exp((1/(T2+273.15)-1/298.15)*4100)；

所述步驟B中最高溫度時熱敏電阻的阻值RT3通過計算得到：

RT3＝10*exp((1/(T3+273.15)-1/298.15)*4100)。

3.如權利要求1所述的熱敏電阻線性化校正方法，其特征在于：所述步驟F與G之間還包括二元一次函數變換為離散阻值集合的步驟；所述步驟G、H之間還包括將并聯阻值集合、離散阻值集合及誤差集合繪制于一張對比圖中的步驟。

4.如權利要求1所述的熱敏電阻線性化校正方法，其特征在于：所述步驟J中，將擬合的二元一次函數的k與b存入控制器中。

5.一種熱敏電阻線性化校正裝置，其特征在于：包括，

溫度設定模塊，用于設定最低溫度T1及最高溫度T3，定義檢測溫度范圍T為(T1-T3)，而后轉到獲取模塊；

獲取模塊，用于獲取熱敏電阻在溫度范圍內所有阻值集合R；獲取最低溫度時熱敏電阻的阻值RT1；獲取中間溫度時熱敏電阻的阻值RT2；獲取最高溫度時熱敏電阻的阻值RT3；而后轉到理論值計算模塊；

理論值計算模塊，用于根據公式計算得到理論并聯電阻阻值R1’，而后轉到并聯阻值獲取模塊；

并聯電阻獲取模塊，用于獲取實際可用的并聯電阻阻值，而后轉到并聯阻值計算模塊；

并聯阻值計算模塊，用于計算得到熱敏電阻與并聯電阻并聯后的并聯阻值集合R_并＝R1/(1+R1/R)，而后轉到擬合模塊；

擬合模塊，用于以二元一次函數y＝kx+b擬合并聯阻值集合R_并而后轉到誤差計算模塊；

誤差計算模塊，用于計算并聯阻值集合R_并與二元一次函數的誤差集合而后轉到誤差判斷模塊；

誤差判斷模塊，用于判斷誤差集合是否超標，是則轉到改變模塊；否則轉到應用模塊；

改變模塊，用于改變并聯電阻阻值R1，轉回并聯電阻獲取模塊；

應用模塊，用于將并聯電阻值R1的電阻并聯接于熱敏電阻上使用，并將擬合的二元一次函數存入控制器中。