[發明專利]X-射線熒光光譜分析儀

有效

• 申請號: 201410781659.5
• 申請日: 2014-12-16
• 公開（公告）號: CN104502386A
• 公開（公告）日: 2015-04-08
• 發明（設計）人: 韓曉朋
• 申請（專利權）人: 韓曉朋
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 廣州中浚雄杰知識產權代理有限責任公司44254
• 代理人: 劉各慧

1.X-射線熒光光譜分析儀，包括箱體、真空腔體座、射線管單元及探測器單元；真空腔體座設在箱體內，真空腔體座具有真空腔；射線管單元設在真空腔體座上；探測器單元設在真空腔體座上；其特征在于：在真空腔體座上設有與真空腔相通的放置孔，放置孔放置有容器裝置，容器裝置內具有樣品腔，容器裝置的底部具有與樣品腔相通的通孔，在容器裝置上設有封閉通孔的透光膜，使樣品腔成為密閉腔，在容器裝置與真空腔體座之間設有密封結構。

2.根據權利要求1所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：所述的真空腔體座包括座體及上蓋板，所述的真空腔設置在座體內；在座體的上表面設有第一密封槽，蓋板固定在座體上，在蓋板與座體之間設有卡置到第一密封槽的第一密封圈；所述的放置孔設置在上蓋板上。

3.根據權利要求1所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：所述的容器裝置包括杯體及杯蓋，杯體內具有所述的樣品腔，杯體的底部為與樣品腔相通的通孔，透光膜封閉在杯體底部的通孔處，杯蓋蓋在杯體上，在杯蓋與杯體之間設有第二密封圈。

4.根據權利要求3所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：透光膜自杯體的底部向上翻折，在杯體上套有杯套，杯套與杯體夾持透光膜的翻折部分；杯體的上部具有向外延伸的第一凸緣，第一凸緣與杯套之間設有第三密封圈；杯蓋活動的連接在杯套上。

5.根據權利要求4所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：杯套的上部邊緣設有向外的第二凸緣，在第二凸緣上設有一個以上的通槽；在杯蓋上設有夾扣，夾扣的下端具有向內的卡扣，卡扣卡置在第二凸緣上。

6.根據權利要求4所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：在杯套的外壁上設有限位環。

7.根據權利要求3所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：透光膜自杯體的底部向上翻折，在杯體的下端部具有臺階，在臺階上套有夾持透光膜的套環。

8.根據權利要求7所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：杯蓋與杯體為一體結構。

9.根據權利要求1所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：所述的密封結構為設在真空腔體座與容器裝置之間的油封。

10.根據權利要求1所述的X-射線熒光光譜分析儀，其特征在于：在真空腔體座內位于透光膜的下方設有保護裝置；所述的保護裝置包括固定塊、下板及保護膜，固定塊固定在真空腔體座上，保護膜壓合在固定塊與下板之間。