[發(fā)明專利]一種基于耦合線緊耦合器的全雙工自干擾信號(hào)消除方法和系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410779315.0
• 申請(qǐng)日: 2015-08-03
• 公開（公告）號(hào): CN104506209A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于翠屏;韓明超;吳永樂;劉元安
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京郵電大學(xué)
• 主分類號(hào): H04B1/525
• 分類號(hào): H04B1/525;H04L5/14
• 代理公司: 北京中政聯(lián)科專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11489
• 代理人: 柴智敏

1.一種基于耦合線緊耦合器的全雙工自干擾信號(hào)消除方法，發(fā)射信號(hào)在通過所述緊耦合器的過程中分割為第一信號(hào)、第二信號(hào)和第三信號(hào)，其特征在于，所述方法包括：

發(fā)射信號(hào)通過緊耦合器的輸入端接入，通過緊耦合器的直通端將發(fā)射信號(hào)的第二信號(hào)發(fā)射出去，同時(shí)通過緊耦合器的耦合作用將發(fā)射信號(hào)的第一信號(hào)接入緊耦合器的耦合端；

調(diào)節(jié)所述耦合端的反射系數(shù)，使得耦合端反射到隔離端的第四信號(hào)與泄漏到隔離端的所有信號(hào)幅度相等、相位相反，消除自干擾信號(hào)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全雙工自干擾信號(hào)消除方法，其特征在于，所述泄漏到隔離端的信號(hào)包括：

發(fā)射信號(hào)泄漏到隔離端的第三信號(hào)，第二信號(hào)泄漏到隔離端的第五信號(hào)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全雙工自干擾信號(hào)消除方法，其特征在于，所述調(diào)節(jié)所述耦合端的反射系數(shù)，是通過耦合端的匹配網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行反射系數(shù)調(diào)節(jié)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全雙工自干擾信號(hào)消除方法，其特征在于，所述調(diào)節(jié)所述耦合端的反射系數(shù)，包括：

獲取緊耦合器耦合端的反射系數(shù)與直通參數(shù)、隔離參數(shù)、耦合參數(shù)、直通端的反射系數(shù)的關(guān)系式，并根據(jù)所述關(guān)系式得到耦合端的理論反射系數(shù)；

根據(jù)所述理論反射系數(shù)調(diào)節(jié)所述耦合端的反射系數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的全雙工自干擾信號(hào)消除方法，其特征在于，所述獲取緊耦合器耦合端的反射系數(shù)與直通參數(shù)、隔離參數(shù)、耦合參數(shù)、直通端的反射系數(shù)的關(guān)系式，并根據(jù)所述關(guān)系式得到耦合端的理論反射系數(shù)，包括如下步驟：

步驟S221，設(shè)定所述緊耦合器的直通參數(shù)、隔離參數(shù)、耦合參數(shù)分別為T、I、C，緊耦合器四個(gè)端口的入射波為a₁、a₂、a₃、a₄，發(fā)射波為b₁、b₂、b₃、b₄；

緊耦合器的散射矩陣為b1b2b3b4=0TCIT0ICCI0TICT0a1a2a3a4;]]>????????式(1)

步驟S222，設(shè)定直通端的反射系數(shù)為Γ_A，則a₂＝Γ_A·b₂；????式(2)

步驟S223，令耦合端的理論反射系數(shù)為Γ，則a₃＝?！₃；?????式(3)

步驟S224，由式(2)和式(3)將式(1)變?yōu)椋?/p>

b1b4=C2Γ+(T+CΓI)2ΓA1-I2ΓΓA(1+CΓΓ)+(C+TΓI)(T+CΓI)ΓA1-I2ΓΓA(I+CΓΓ)+(C+TΓI)(T+CΓI)ΓA1-I2ΓΓATΓ2+(C+TΓΓ)2ΓA1-I2ΓΓAa1a4;]]>

步驟S225，令

(I)+(CΓT)+(TΓ_AC)+(CΓIΓ_AC)+(TΓ_AIΓT)+(CΓIΓ_AIΓT)+(TΓ_AIΓIΓ_AC)+...＝0

???????????????????????????????式(4)

步驟S226，取式(4)前五項(xiàng)并變形則得耦合端的理論反射系數(shù)Γ：

Γ=-I+TΓACCT+CIΓAC+TΓAIT.]]>