[發明專利]錐形鏡錐角測量裝置及測量方法有效
| 申請號: | 201410779061.2 | 申請日: | 2015-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN104501743A | 公開(公告)日: | 2015-07-29 |
| 發明(設計)人: | 王瑩;曾愛軍;張運波;顧帥妍;黃惠杰 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 張澤純;張寧展 |
| 地址: | 201800 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 錐形 鏡錐角 測量 裝置 測量方法 | ||
1.一種錐形鏡錐角測量裝置,特征在于該裝置由光源(1)、聚焦透鏡(2)、濾光小孔(3)、分光鏡(5)、準直透鏡(6)、反射鏡(9)、圖像傳感器(4)、第一調整機構(8)和帶有高精密角位移臺的第二調整機構(10)組成,上述元部件的位置關系如下:沿光源(1)出射光束方向依次是聚焦透鏡(2)、濾光小孔(3)、分光鏡(5)、準直透鏡(6)和反射鏡(9);所述的圖像傳感器(4)位于準直透鏡(6)的前焦面,圖像傳感器(4)與所述的準直透鏡(6)共光軸;所述的分光鏡(5)位于圖像傳感器(4)和準直透鏡(6)之間;所述的濾光小孔(3)位于所述的聚焦透鏡(2)的焦平面,所述的濾光小孔(3)和圖像傳感器(4)相對于所述的分光鏡(5)共軛,在所述的準直透鏡(6)與反射鏡(9)之間預留有待測錐形鏡(7)的位置;該待測錐形鏡(7)固定在第一調整機構(8)上,所述的反射鏡(9)固定在第二調整機構(10)的精密角位移臺上。
2.利用權利要求1所述的錐形鏡錐角測量裝置進行錐形鏡錐角的檢測方法,其特征在于該方法包括以下步驟:
①所述的光源(1)出射的光束經聚焦透鏡(2)聚焦到濾光小孔(3),通過濾光小孔(3)的光經分光鏡(5)與準直透鏡(6)輸出準直光束,該準直光束照射所述的反射鏡(9),通過第二調整機構(10)調整所述的反射鏡(9),使反射鏡(9)的反射光束原路返回,經所述的準直透鏡(6)、分光鏡(5)到達所述的圖像傳感器(4)的中心位置,記錄所述的第二調整機構(10)的角位移臺的角度讀數β1;
②將待測錐形鏡(7)置于所述的第一調整機構(8)上,通過第一調整機構(8)的調整,使待測錐形鏡(7)位于所述的準直透鏡(6)與反射鏡(9)之間,經所述的準直透鏡(6)的準直光束從待測錐形鏡(7)的平面入射;
③通過第一調整機構(8)調整所述的待測錐形鏡(7),使待測錐形鏡(7)的反射光經準直透鏡(6)、分光鏡(5)到達所述的圖像傳感器(4)的中心位置;
④通過第二調整機構(10)的角位移臺轉動所述的反射鏡(9),使反射鏡(9)的反射光束經待測錐形鏡(7)、準直透鏡(6)、分光鏡(5)到達所述的圖像傳感器(4)的中心位置,記錄第二調整機構(10)的角位移臺的角度讀數β2,按下列公式計算得到所述的待測錐形鏡(7)的錐角θ:
式中,n為所述的待測錐形鏡(7)相對入射光波長的折射率。
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