[發明專利]一種內存特性測試系統在審
| 申請號： | 201410770538.0 | 申請日： | 2014-12-15 |
| 公開（公告）號： | CN104616700A | 公開（公告）日： | 2015-05-13 |
| 發明（設計）人： | 陸翔 | 申請（專利權）人： | 海太半導體（無錫）有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 無錫市朗高知識產權代理有限公司 32262 | 代理人： | 楊虹 |
| 地址： | 214000 江蘇省無*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 內存 特性 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種內存特性測試系統，其特征在于，包括：
測試抓取裝置及內存特性測試制具；
所述測試抓取裝置用于抓取內存至內存特性測試制具上進行測試；所述測試抓取裝置包括電機，所述電機運轉速度與內存特性測試制具時間匹配。
2.根據權利要求1所述的內存測試系統，其特征在于，所述測試抓取裝置的延遲和內存特性測試制具的測試時間相匹配。
3.根據權利要求1或2所述的內存測試系統，其特征在于，所述匹配是通過對電機的運轉參數編程修正獲得的。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于海太半導體（無錫）有限公司，未經海太半導體（無錫）有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410770538.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
