[發明專利]檢測配電系統中的熱點的計算裝置和方法

有效

• 申請號: 201410769331.1
• 申請日: 2014-12-12
• 公開（公告）號: CN104713662B
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發明（設計）人: J.J.多赫蒂
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 易皎鶴;劉春元

提供了一種用于檢測配電系統(10)中的熱點的計算裝置(102)。所述計算裝置包括：處理器(114)和聯結到所述處理器的存儲器(112)。所述存儲器包含處理器可執行指令，所述指令被所述處理器執行時，引起所述計算裝置執行步驟：接收導電中心(20)的連接點(56)的第一溫度；接收流過所述導電中心的電流量的測量值；估計在所述連接點處的所述導電中心的第二溫度，以及確定所述第一溫度和所述第二溫度之間的差何時超過第一預定閾值。所述估計至少部分基于流過所述導電中心的電流的量。

技術領域

本申請的領域一般涉及電力配電系統，更具體地，涉及檢測電力配電系統中的熱點的方法。

背景技術

電力的分配通常是使用配電箱體(distribution enclosure)(比方說例如負載中心、配電盤和開關裝置)管理的。配電箱體向負載(諸如機器和電動機)提供電。例如，開關裝置通常包括一個或多個電力母線，使得電流流向負載。更具體地，至少一些已知的電力母線是在開關裝置、配電站或其它電力系統或設備中傳導電的相對重的導電條。

至少一些已知的電力母線易于受到熱量的熱點(thermal hotspot)的影響，熱點會不利地影響母線的性能和/或完整性，這是不期望的。通常，熱點是由電力母線和其它配電組件之間的連接點的電阻的變化引起的。例如，電阻的變化是由松動的接頭、氧化、熱膨脹和/或收縮和/或連接點處的過載引起的。至少一些已知的配電箱體包括監控配電箱體中的組件的溫度并在檢測到其中的潛在熱點時提供警告的系統。這些系統通常通過測量連接點的母線的溫度以及確定所測量的溫度是否超過預定閾值來檢測熱點的。然而，只測量母線的溫度可能會提供錯誤的熱點檢測。例如，由于某些運行因素(諸如通過配電箱體的氣流阻塞和/或接近斷路器的極限操作母線)可能會測量到料想不到的高溫。

發明內容

在一方面，提供了一種檢測配電系統中的熱點的方法。所述配電系統包括導電中心，所述導電中心包括用于聯結到配電組件的連接點。所述方法包括測量在所述連接點所述導電中心的第一溫度，估計在所述連接點所述導電中心的第二溫度，以及確定所述第一溫度和所述第二溫度之間的差何時超過第一預定閾值。所述估計至少部分基于流過所述導電中心的電流的量。

在另一方面，提供了一種檢測配電系統中的熱點的計算裝置。所述計算裝置包括處理器和聯結到所述處理器的存儲器。所述存儲器包含處理器可執行指令，當所述處理器可執行指令被所述處理器執行時，所述處理器可執行指令引起所述計算裝置執行步驟：接收導電中心的連接點的第一溫度；接收流過所述導電中心的電流量的測量值；估計在所述連接點處的所述導電中心的第二溫度，以及確定所述第一溫度和所述第二溫度之間的差何時超過第一預定閾值。所述估計至少部分基于流過所述導電中心的電流的量。

在又一方面，提供了檢測配電系統中的熱點的計算機實現的方法。所述配電系統包括導電中心，所述導電中心包括用于聯結到配電組件的連接點。所述方法包括：接收導電中心的連接點的第一溫度，接收流過所述導電中心的電流量的測量值，估計在所述連接點所述導電中心的第二溫度，以及確定所述第一溫度和所述第二溫度之間的差何時超過第一預定閾值。所述估計至少部分基于流過所述導電中心的電流的量。

附圖說明

圖1是示例性配電系統的示意圖。

圖2是可以用在圖1所示的配電系統中的示例性配電箱體的透視剖面圖。

圖3是圖2中所示的配電箱體的示意圖。

圖4是圖示用于檢測圖1中所示的配電系統的熱點的示例性測量例程的流程圖。

圖5是圖示校準圖4中所示的測量例程的示例性方法的流程圖。

具體實施方式