[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置以及誤差抵消方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410759776.1
• 申請日: 2014-12-12
• 公開（公告）號: CN104714686B
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 石井達也;田中伸和;武山洋士;赤井亮仁
• 申請（專利權(quán)）人: 辛納普蒂克斯日本合同會社
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 秦琳;張懿

1.一種半導(dǎo)體裝置，包括：

電容檢測控制器，操作成：

使用一個或多個檢測電極周期性地導(dǎo)入檢測信號以生成用于檢測接近所述檢測電極的對象的數(shù)據(jù)，其中在周期性的檢測周期中所述檢測信號在檢測期間被導(dǎo)入，每個檢測周期定義連續(xù)的檢測期間之間的時間，并且其中在所述檢測期間的每個期間向所述檢測電極施加一個驅(qū)動脈沖；以及

處理器，操作成設(shè)定所述檢測周期的時長，

其中所述檢測周期的時長是由定時信號規(guī)定的顯示掃描周期的時長的一半的奇數(shù)倍、或所述顯示掃描周期的時長的1/m的一半的奇數(shù)倍，其中m為大于1的整數(shù)；

其中所述檢測期間的時長是所述顯示掃描周期的1/n的整數(shù)倍，其中n為正整數(shù)；

其中所述檢測周期的時長大于所述檢測期間的時長。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其中，所述處理器操作成基于周期性噪聲信號確定m的值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其中，

在所述電容檢測控制器中，所述檢測期間的每個的時長由檢測期間設(shè)定數(shù)據(jù)來指定。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體裝置，其中，

所述處理器操作成基于確定所述檢測期間的時長的值來確定n的值，所述檢測期間的時長與所述周期性噪聲信號的周期的整數(shù)倍大體相同。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體裝置，其中，所述處理器具有非易失性存儲器，所述非易失性存儲器包括：

用于指定顯示掃描周期的1/m的檢測周期設(shè)定數(shù)據(jù)，以及用于指定所述顯示掃描周期的1/n的整數(shù)倍的檢測期間設(shè)定數(shù)據(jù)，其中所述檢測周期設(shè)定數(shù)據(jù)和所述檢測期間設(shè)定數(shù)據(jù)以能重寫的方式儲存在所述非易失性存儲器中。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其中通過使用所述檢測周期的時長，所述電容檢測控制器配置成：

將所述連續(xù)的檢測期間的第一個與周期性噪聲信號的正分量對齊；以及

將所述連續(xù)的檢測期間的第二個與所述周期性噪聲信號的負分量對齊，其中所述正分量和所述負分量具有相似的量級。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其中，所述處理器具有非易失性存儲器，并且用于指定所述顯示掃描周期的1/m的檢測期間設(shè)定數(shù)據(jù)以能重寫的方式儲存在所述非易失性存儲器中。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，還包括：

顯示控制器，所述顯示控制器操作成與在顯示面板的每個顯示掃描周期中與使用所述一個或多個檢測電極導(dǎo)入所述檢測信號同步地向所述顯示面板的信號電極供給灰度信號。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其中，

所述電容檢測控制器利用所述檢測周期來進行觸摸檢測和噪聲檢測，其中：

在所述觸摸檢測中，所述電容檢測控制器驅(qū)動一驅(qū)動電極來導(dǎo)入所述檢測信號，

在所述噪聲檢測中，所述電容檢測控制器停止驅(qū)動所述驅(qū)動電極來導(dǎo)入所述檢測信號，

所述處理器操作成基于在噪聲檢測期間所測量的數(shù)據(jù)來確定所述檢測周期的時長。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體裝置，其中，

所述電容檢測控制器操作成設(shè)定所述檢測期間的時長來進行所述觸摸檢測和噪聲檢測，

所述檢測期間的時長為所述顯示掃描周期的1/n的整數(shù)倍，其中n為正整數(shù)。