[發明專利]細顆粒度污點分析中的污染屬性操作方法

在審

• 申請號: 201410759439.2
• 申請日: 2014-12-11
• 公開（公告）號: CN104361288A
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發明（設計）人: 張垚;董超群;司品超;廖軍;張超容;黃東海
• 申請（專利權）人: 無錫江南計算技術研究所
• 主分類號: G06F21/57
• 分類號: G06F21/57
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 龔燮英

1.一種細顆粒度污點分析中的污染屬性操作方法，其特征在于包括：

以鍵值對的形式描述細顆粒度污點分析所得出的指定內存地址與其污染屬性的映射關系；

直接將所述鍵值對存儲于兩級存儲系統中，其中所述兩級存儲系統由作為第一級的高速內存和作為第二級的大容量外存組成；以及

從兩級存儲系統中讀取期望獲取的鍵值對，其中首先在第一級的內存中存儲的鍵值對進行查找期望獲取的鍵值對，如果在第一級的內存中存儲的鍵值對中發現期望獲取的鍵值對則讀取期望獲取的鍵值對，如果在第一級的內存中存儲的鍵值對中未發現期望獲取的鍵值對，則在第二級存儲的鍵值對查找并讀取期望獲取的鍵值對，同時將讀取出的期望獲取的鍵值對存儲至第一級的內存中。

2.根據權利要求1所述的污染屬性操作方法，其特征在于還包括：從兩級存儲系統中刪除待刪除鍵值對。

3.根據權利要求1或2所述的污染屬性操作方法，其特征在于，在每個鍵值對中，鍵用于存儲內存地址，值用于存儲該內存地址的當前的污染屬性。

4.根據權利要求1或2所述的污染屬性操作方法，其特征在于，在第一級的內存中使用B+樹結構對對鍵值進行存儲。

5.根據權利要求1或2所述的污染屬性操作方法，其特征在于，在第二級的外存中使用Hash表對對鍵值進行存儲。

6.根據權利要求1或2所述的污染屬性操作方法，其特征在于，在直接將所述鍵值對存儲于兩級存儲系統中時，在第一級和第二級上同時進行所述鍵值對的存儲。

7.根據權利要求1或2所述的污染屬性操作方法，其特征在于，在第一級的內存的存儲容量達到上限時，通過LRU策略淘汰出舊的數據。