[發(fā)明專利]抑制集成無源器件品質(zhì)因子漂移的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410747733.1 | 申請日: | 2014-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN105742152B | 公開(公告)日: | 2018-09-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳林;杜海 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 俞滌炯 |
| 地址: | 201203 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 抑制 集成 無源 器件 品質(zhì) 因子 漂移 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種在集成無源器件中防止器件品質(zhì)因子發(fā)生負面漂移的方法。包括植入預(yù)定元素的離子至襯底中,熱處理襯底,利用離子促使襯底之中間隙氧析出氧沉淀,離子同步與間隙氧反應(yīng)生成該元素的硅氧復(fù)合體,籍此降低襯底中的間隙氧濃度,在襯底頂面形成絕緣層并制備位于絕緣層之上的集成無源器件。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件領(lǐng)域,更確切的說,本發(fā)明旨在提供一種在帶有電阻器、電感器和電容器的集成無源器件中防止器件品質(zhì)因子發(fā)生負面漂移的方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中無源器件被廣泛使用,尤其射頻電路中無源器件必不可少,無源器件或者帶有無源器件的電路小型化是評估射頻技術(shù)的參數(shù)指標(biāo)之一,而且,無源器件的另一個性能參數(shù)是品質(zhì)因子(Quality-factor),一般而言,器件的品質(zhì)因子越大,其體現(xiàn)出來的性能通常就顯得越優(yōu)異。
現(xiàn)有技術(shù)中常常在PCB板上制作分立的電感和電容來實現(xiàn)匹配,能夠極大地降低成本但無法滿足小型化的設(shè)備趨勢,然而這會占用大量的面積,尤其是這些分立器件無法集成至芯片級。終端手持設(shè)備或者基站設(shè)備等可以包括一個或多個集成電路,這些集成電路可以包括無線通信所必需的模擬電路和數(shù)字電路,實質(zhì)上這些電路可以包括電感器和電容器。隨著用于形成集成電路的技術(shù)的發(fā)展,集成電路上的有源元件(例如晶體管)的尺寸不斷減小。相對于有源元件,集成電路上的無源元件的尺寸有可能沒有減小,因為需要考慮小型化無源器件的品質(zhì)因子是否符合規(guī)范,輸入信號的損耗能否被限定在可靠范圍,因此,用先進技術(shù)形成的集成電路可能需要增大無源元件在集成電路上的面積百分比。為了降低生產(chǎn)成本并且節(jié)約面積,可以在晶圓上同時集成有源元件和無源器件。
在GHz級別的射頻集成電路中,電感可以用在芯片嵌入式(on-chip)的匹配電路、被動濾波器、電感負載、變壓器、壓控震蕩器等器件中。其中最重要的性能就是品質(zhì)因子,影響品質(zhì)因子的因素有,必須考慮金屬線圈的歐姆損耗、基底的損耗、電感的寄生電容。在過去的發(fā)展中,已經(jīng)提出許多高品質(zhì)因子電感,例如使用高導(dǎo)電率的金屬層制造金屬線圈,以減少歐姆損耗。使用多層金屬以增加電感的有效厚度,以減少高頻的基底損耗。使用低損耗的基底材料,以減少高頻的基底損耗。使用厚氧化層隔絕浮置電感和基底,以減少基底損耗等。
本發(fā)明在于可靠的在集成無源器件中防止器件品質(zhì)因子發(fā)生負面大幅度變動的制備方案,提供高性能品質(zhì)因子的晶圓級集成器件。
發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明的一種抑制集成無源器件品質(zhì)因子漂移的方法中,包括以下步驟:提供具有第一導(dǎo)電類型的襯底;植入一預(yù)定元素的離子至襯底中;熱處理襯底,利用所述離子促使襯底之中間隙氧析出氧沉淀,所述離子同步與間隙氧反應(yīng)生成該元素的硅氧復(fù)合體。
籍此降低襯底中的間隙氧濃度;在所述襯底頂面形成絕緣層并制備位于絕緣層之上的集成無源器件;其中降低間隙氧濃度,主要用于抑制集成無源器件品質(zhì)因子因為間隙氧受熱擴散成氧熱施主而誘發(fā)的漂移。
上述的方法,第一導(dǎo)電類型為P型,降低間隙氧濃度用于在制備集成無源器件步驟中,避免襯底載流子濃度下降電阻率上升,和防止襯底的原始施主被氧熱施主補償而致使襯底經(jīng)由第一導(dǎo)電類型轉(zhuǎn)變成N型的第二導(dǎo)電類型。
上述的方法,第一導(dǎo)電類型為N型,降低間隙氧濃度用于在制備集成無源器件步驟中,避免襯底載流子濃度增加電阻率下降。
上述的方法,,在化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定的氣體的氣氛環(huán)境下熱處理襯底,所述化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定的氣體包括氮氣和稀有氣體。
上述的方法,熱處理所述襯底的步驟中,包括700~900攝氏度條件下進行0~16小時的熱處理過程。
上述方法,在實施植入離子的步驟之后,但在進行熱處理所述襯底的步驟之前,以RCA清洗法清洗所述襯底。
上述的方法,所述預(yù)定元素包括碳或鍺。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





