[發明專利]一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法有效
| 申請號： | 201410742102.0 | 申請日： | 2014-12-05 |
| 公開（公告）號： | CN104458523A | 公開（公告）日： | 2015-03-25 |
| 發明（設計）人： | 朱殷;陳浩;劉曉龍;杜志貴;何洋 | 申請（專利權）人： | 中國科學院光電研究院 |
| 主分類號： | G01N15/06 | 分類號： | G01N15/06;G01N15/02;G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人： | 楊學明;賈玉忠 |
| 地址： | 100094*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 實現 納米 尺寸 大氣 顆粒 監測 方法 | ||
1.一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法，其特征在于，包括：該方法的步驟如下：
步驟1、利用暗場散射成像原理獲得大氣細顆粒物樣品的高信噪比的具有納米精度的暗場圖像和暗場散射光譜；
步驟2、利用光點提取算法，自動讀取暗場圖像中顆粒個數，獲得測量區域顆粒濃度；
步驟3、選取暗場圖像中的某一亮點即細顆粒，通過對該顆粒的暗場光譜的測量獲得其散射光譜數據；
步驟4、通過對選定目標的暗場散射光譜的分析，獲得該顆粒的尺寸和成分信息。
2.如權利要求1所述的一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法，其特征在于，利用暗場散射成像原理獲得大氣細顆粒物樣品的高信噪比的具有納米精度的暗場圖像和暗場散射光譜。
3.如權利要求1所述的一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法，其特征在于，利用光點提取算法，自動讀取暗場圖像中顆粒個數，獲得測量區域顆粒濃度。
4.如權利要求1所述的一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法，其特征在于，利用暗場散射光譜紅移和細顆粒物尺寸的線性依賴關系，由光譜信息推斷細顆粒物的尺寸信息。
5.如權利要求1所述的一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法，其特征在于，利用暗場散射光譜推斷細顆粒物的成分信息。
6.如權利要求1-5中任意一項所述的一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法，其特征在于，還包括：通過改變下面中的一種或多種組合，以實現對大氣納米尺寸細顆粒物的監測
(1)入射光的波長；
(2)入射光束的聚光方式；
(3)探測的散射光譜的機制；
(4)暗場照明的方式；
(5)暗場散射成像系統散射光收集的方式。
7.如權利要求1-5中任意一項所述的一種實現納米尺寸大氣細顆粒物的監測方法，其特征在于，還包括：探測大氣細顆粒物的尺寸為100納米至2.5微米。
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