[發明專利]一種氣體分析儀

在審

• 申請號: 201410735374.8
• 申請日: 2014-12-05
• 公開（公告）號: CN104458626A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 彭冉;侯亮;王本臘;劉德華
• 申請（專利權）人: 力合科技（湖南）股份有限公司
• 主分類號: G01N21/33
• 分類號: G01N21/33
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 郝瑞剛

技術領域

本發明涉及氣體檢測領域，尤其涉及一種利用紫外方法分析氣體成分的氣體分析儀。

背景技術

目前，國內現有的用于氣體成分檢測的分析儀主要以紅外的分析方法為主。例如：申請號為201110043686.9的發明專利申請公開了一種非分散紅外多組分煙氣分析儀產品，它由紅外光源、光學濾光輪、多次反射池和紅外探測器等組成。該方法主要有如下幾點不足：(1)利用紅外的方法對氣體進行監測時，受H₂0和CO₂氣體的測量干擾，影響儀器的檢出限和抗背景干擾能力；(2)對光學濾光輪的控制精度以及對多次反射池的設計要求很高。

基于以上不足，部分氣體成分檢測分析儀采用紫外的分析方法進行。如：申請號為201210298326.8的發明專利申請公開了一種低濃度煙氣紫外分析儀及檢測方法產品，該分析方法雖然有效的避開了H₂0和CO₂氣體的測量干擾，但其不能同時對SO2、NO氣體進行實時監測。而對申請號為200910135826.8的發明專利而言，其存在兩個氣室、兩個探測器，結構復雜，成本高，另外無法避免兩個探測器間電子噪聲等不一致因素所帶來的誤差，并且分光鏡片的使用，使各探測器探測到的強度減弱，間接的縮短了光源使用壽命。

除此之外，從現場情況來看，測量氣室長期使用時，由于氣室與腐蝕性氣體接觸，并且在儀器停止工作時，酸性氣體會殘留在氣室內，導致氣室會出現不同程度的腐蝕，影響儀器的正常測試。

因此，針對以上不足，本發明提供了一種結構簡單、測試準確度高、可同時測試多組分氣體、能實時自清潔、采用紫外分析方法的氣體分析儀。

發明內容

(一)要解決的技術問題

本發明的目的是提供一種氣體分析儀以解決現有氣體分析儀結構復雜，對相應設備要求高，不能實現氣體的實時自動切換，清潔能力差，容易腐蝕的問題，另外還解決現有氣體分析儀受背景條件干擾，容易引起誤差，影響測試準確度的問題。

(二)技術方案

為了解決上述技術問題，基于朗伯—比爾定律，本發明提供了一種氣體分析儀，其特征在于，包括沿光路依次設置有紫外光源、遮光裝置、氣室和光電探測器，還包括氣體切換裝置和控制裝置，所述氣體切換裝置設置在所述氣室的氣體入口管路上，所述氣體切換裝置與所述控制裝置連接，以控制參比氣與待測氣交替進入所述氣室。

優選地，所述氣體切換裝置包括控制閥和兩進一出型接頭，所述兩進一出型接頭的出口連接所述氣室的入口，兩個進口分別與參比氣管路和待測氣管路連接，所述參比氣管路和待測氣管路上分別設置第一控制閥和第二控制閥，所述第二控制閥上設有泄氣口。

優選地，所述第一控制閥為一個二位二通的電磁閥或者單向閥，所述第二控制閥為兩個二位二通電磁閥或一個三位二通電磁閥。

優選地，所述參比氣管路的入口端設有過濾器和采樣泵。

優選地，所述紫外光源采用氘燈、氙燈或空心陰極燈。

優選地，所述遮光裝置上設有遮光片，電機與所述遮光片連接而控制其開合。

優選地，所述氣室的出口設有流速測試裝置。

優選地，所述光電探測器采用一個內置光柵的紫外光譜儀。

優選地，所述光電探測器、氣室和紫外光源分別置于與溫控裝置連接的相應獨立安裝裝置內，所述光電探測器與紫外光源的相應安裝裝置內均設置半導體制冷片，所述氣室的安裝裝置內設加熱絲或制熱塊。

優選地，采樣泵、電機、流速測試裝置和光電探測器分別與控制裝置連接。

(三)有益效果

本發明的上述技術方案具有如下優點：本氣體分析儀采用紫外光源，能有效的避開了H₂0和CO₂氣體的測量干擾；本氣體分析儀在氣室入口處設有氣體切換轉置，通過對參比氣與待測氣的交替切換，可以實時獲取分析所需要的燈譜和吸收譜，只需要一個氣室就能滿足工作要求，而不需要多個氣室或者反應池，同時氣體切換裝置可以接通參比氣通路對氣室進行充氣清潔，實現分析儀自清潔的功能，防止分析儀腐蝕，提高了儀器的使用壽命；另外，在氣室出口設有流速測試儀，可以檢測氣室中是否有氣體通入及通入的時間，由此而決定是否切換氣體的操作，能有效避免參比氣與待測氣混合而干擾測試準確性。