[發明專利]發光裝置有效
| 申請號: | 201410734249.5 | 申請日: | 2014-12-04 |
| 公開(公告)號: | CN104701441B | 公開(公告)日: | 2018-09-11 |
| 發明(設計)人: | 藏本雅史;山崎明子;市川博史;清水泰典;太田明寬 | 申請(專利權)人: | 日亞化學工業株式會社 |
| 主分類號: | H01L33/56 | 分類號: | H01L33/56 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 沈雪 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 凹部 粒子 密封部件 發光裝置 發光元件 集中分布 邊緣部 分散劑 凝聚體 上表面 | ||
本發明的實施方式的發光裝置(100)具備:上表面(11)具有凹部(15)的基體(10)、設置于所述凹部(15)的發光元件(20)和設置于所述凹部(15)的密封部件(30),所述密封部件(30)含有進行了表面處理的粒子(40)或與分散劑共存的粒子(40),所述密封部件(30)的邊緣部的至少一部分,是處于所述凹部的邊緣(17)附近且所述粒子(40)或所述粒子的凝聚體(41)中的至少任一種集中分布的區域。
技術領域
本發明涉及一種具備發光元件和對其進行密封的密封部件的發光裝置。
背景技術
目前,有一種發光裝置,其通過在包封件的凹部配置發光元件,用金屬絲與發光元件和引線框連接,進一步在凹部填充密封樹脂并使其固化來制造(例如參照專利文獻1、2)。
現有技術文獻
專利文獻1:日本特開2010-080620號公報
專利文獻2:日本特開2011-222718號公報
非專利文獻:
非專利文獻1:BM.Weon,JH.Je,Self-Pinning by Colloids Confined at aContact Line,Phys.Rev.Lett.110,028303(2013)
發明內容
發明所要解決的課題
但是,在這種發光裝置中,由于密封樹脂的液態母材具有高的潤濕性,存在密封樹脂意外地從包封件的凹部向上表面濡濕擴展的問題。
因此,本發明是鑒于這種情況而開發的,其目的在于,提供一種抑制了密封部件從基體的凹部向上表面的濡濕擴展的發光裝置。
用于解決課題的技術方案
為了解決上述課題,本發明的實施方式的發光裝置的特征在于,具備:上表面具有凹部的基體、設置于所述凹部的發光元件和設置于所述凹部的密封部件,所述密封部件含有進行了表面處理的粒子、或與分散劑共存的粒子,所述密封部件的邊緣部的至少一部分,是處于所述凹部的邊緣附近且集中分布有所述粒子或所述粒子的凝聚體中的至少任一種的區域。
發明的效果
根據本發明,能夠抑制密封部件向基體上表面的濡濕擴展。
附圖說明
圖1是本發明一實施方式的發光裝置的概略俯視圖(a)、和其A-A剖面中的概略剖面圖(b)。
圖2是對抑制本發明實施方式中的密封部件的濡濕擴展的原理進行說明的概略圖(a)及(b)。
圖3是表示本發明一實施方式的發光裝置的密封部件中的、進行了表面處理的粒子的含量和向基體上表面的濡濕擴展的關系的坐標圖。
圖4是本發明一實施方式的發光裝置的概略俯視圖(a)、和其B-B剖面中的概略剖面圖(b)。
圖5是本發明一實施例的發光裝置的密封部件的邊緣部利用掃描型電子顯微鏡觀察的上表面觀察圖像。
圖6是圖5所示的密封部件的邊緣部的能量分散型X射線分析的數據。
圖7是圖5所示的密封部件的邊緣部利用掃描型電子顯微鏡觀察的剖面觀察圖像。
符號說明
10:基體(11:上表面、15:凹部、17:邊緣)
20:發光元件
30:密封部件
35:密封部件的母材
40:進行了表面處理的粒子、或與分散劑共存的粒子
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