[發(fā)明專(zhuān)利]射頻開(kāi)關(guān)測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410734228.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105717446B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-11-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沈細(xì)榮 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 神訊電腦(昆山)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/327 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/327 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射頻 開(kāi)關(guān) 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種射頻開(kāi)關(guān)測(cè)試裝置,用于測(cè)試射頻開(kāi)關(guān),其特征在于,所述射頻開(kāi)關(guān)測(cè)試裝置包括:
音頻輸入設(shè)備,所述音頻輸入設(shè)備提供高頻信號(hào)的音頻;
音頻連接線(xiàn),其具有音頻電纜及連接頭,所述音頻電纜為雙芯屏蔽電纜,所述雙芯屏蔽電纜其中一芯斷開(kāi),所述斷開(kāi)的一芯兩端連接待測(cè)的射頻開(kāi)關(guān),所述連接頭具有正頭及負(fù)頭,所述正頭連接所述音頻輸入設(shè)備;
音頻輸出設(shè)備,所述連接頭的負(fù)頭連接所述音頻輸出設(shè)備;
在測(cè)試時(shí),音頻輸入設(shè)備輸入具有高頻信號(hào)的音頻,音頻輸出設(shè)備播放音頻,若音頻輸出設(shè)備播放的音頻是完好的,則射頻開(kāi)關(guān)為良好的,反之,若音頻輸出設(shè)備無(wú)法播放音頻,則射頻開(kāi)關(guān)存在問(wèn)題。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻開(kāi)關(guān)測(cè)試裝置,其特征在于,所述音頻輸入設(shè)備為筆記本電腦、電視機(jī)或錄像機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻開(kāi)關(guān)測(cè)試裝置,其特征在于,所述音頻輸出設(shè)備為音箱。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻開(kāi)關(guān)測(cè)試裝置,其特征在于,所述斷開(kāi)的一芯兩端分別連接I-PEX端子,所述I-PEX端子連接所述待測(cè)的射頻開(kāi)關(guān)。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 開(kāi)關(guān)、按鈕開(kāi)關(guān)和轉(zhuǎn)動(dòng)開(kāi)關(guān)
- 開(kāi)關(guān)和開(kāi)關(guān)組件
- 開(kāi)關(guān)及開(kāi)關(guān)面板
- 開(kāi)關(guān)(心的開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(智慧開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(智慧開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(表情開(kāi)關(guān))
- 感應(yīng)開(kāi)關(guān)(雙開(kāi)關(guān))
- 電器開(kāi)關(guān)(雙開(kāi)關(guān))
- 開(kāi)關(guān)(雙位開(kāi)關(guān))
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠(chǎng)測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
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