[發明專利]檢測系統及其檢測方法

在審

• 申請號: 201410733499.7
• 申請日: 2014-12-04
• 公開（公告）號: CN104714167A
• 公開（公告）日: 2015-06-17
• 發明（設計）人: 顧偉正;呂紹瑋;魏豪;王友澤
• 申請（專利權）人: 旺矽科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/02;G01R27/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

技術領域

本發明與檢測系統有關；特別是指一種檢測系統及其檢測方法。

背景技術

隨著電子產品發展日漸蓬勃，為確保電子產品出廠時的質量，制造、組裝及出廠前，通常都會通過檢測系統檢測電子產品的各精密電子元件間的電性連接是否確實。

但現有的檢測系統一次僅能對單一測量規格的產品進行檢測，無法適用于多種測量規格的檢測上。另外，現有檢測設備欲檢測不同規格的產品時，必須重新以人工方式拆卸替換對應規格的探針組，不僅耗時且費力。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的用于提供一種檢測系統及其檢測方法，可適用于不同規格的檢測。

為了達到上述目的，本發明提供一種檢測系統用以對待測電路進行電性檢測，且包括檢測機、多個探針組、數據輸入設備、控制器、儲存器以及數據輸出裝置。其中，該檢測機具有承臺以及檢測臂，該承臺用以供具有該待測電路的待測物置放，而該檢測臂可相對該承臺移動。所述探針組設于該檢測機上，且至少一該探針組位于該檢測臂上并可與該檢測臂同步移動，用以供與該待測電路上的待測部位接抵。該數據輸入設備用以輸入該待測電路的待測部位的數據。該控制器設于該檢測機上，且與該檢測臂、該檢測臂上的至少一該探針組以及該數據輸入設備電性連接，用以依據該數據輸入設備輸入的數據，控制該檢測臂移動至預定位置，并使該檢測臂上的其中一探針組與該待測電路上的待測部位接抵以進行電性檢測。該儲存器與該控制器電性連接，用以儲存該檢測臂上的該探針組與該待測電路上的待測部位接抵后的電性檢測結果。該數據輸出裝置與該儲存器電性連接，用以將該電性檢測結果輸出。

本發明還提供有該檢測系統的檢測方法，包括下列步驟：

A.置放具有該待測電路的待測物于該承臺上；

B.操控該數據輸入設備取得該待測電路的待測部位的數據；

C.進行該檢測機與位于該檢測臂上的該至少一探針組的數值校正；

D.該控制器依據該數據輸入設備輸入的數據，控制該檢測臂移動至預定位置，并控制對應的一該探針組與該待測電路上的待測部位接抵以進行電性檢測；

E.儲存電性檢測的結果至該儲存器；

F.利用該數據輸出裝置將該儲存器儲存的電性檢測結果輸出；

G.將該待測物與該承臺分離。

由此，通過上述的設計，便可使該檢測系統適用于不同規格的檢測。

附圖說明

圖1是本發明較佳實施例的檢測系統的方塊圖。

圖2是本發明較佳實施例的檢測機的立體圖。

圖3是本發明較佳實施例的檢測臂的立體圖。

圖4是本發明較佳實施例的探針組的立體圖。

圖5是本發明第一較佳實施例的檢測方法的流程圖。

圖6是本發明另一較佳實施例的檢測機的立體圖。

圖7是圖6上的探針架的立體圖。

【附圖標記說明】

10??檢測機

11??基座

12??承臺

13??支架

14??檢測臂

141?轉盤

142?安置座

20??探針組

21、22?探針

23?????外殼

30?????數據輸入設備

40?????控制器

50?????儲存器

60?????數據輸出裝置

70?????檢測機

73?????支架

74?????檢測臂

741????嵌具

75?????探針架

100????待測物

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本發明進一步詳細說明。

請參圖1所示，本發明一較佳實施例的檢測系統用以對待測電路進行電性檢測，且包括檢測機10、多個探針組20、數據輸入設備30、控制器40、儲存器50以及數據輸出裝置60，其中：