[發(fā)明專利]檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410733499.7
• 申請(qǐng)日: 2014-12-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104714167A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-06-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 顧偉正;呂紹瑋;魏豪;王友澤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 旺矽科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R31/02;G01R27/02
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明與檢測(cè)系統(tǒng)有關(guān)；特別是指一種檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

隨著電子產(chǎn)品發(fā)展日漸蓬勃，為確保電子產(chǎn)品出廠時(shí)的質(zhì)量，制造、組裝及出廠前，通常都會(huì)通過(guò)檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)電子產(chǎn)品的各精密電子元件間的電性連接是否確實(shí)。

但現(xiàn)有的檢測(cè)系統(tǒng)一次僅能對(duì)單一測(cè)量規(guī)格的產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，無(wú)法適用于多種測(cè)量規(guī)格的檢測(cè)上。另外，現(xiàn)有檢測(cè)設(shè)備欲檢測(cè)不同規(guī)格的產(chǎn)品時(shí)，必須重新以人工方式拆卸替換對(duì)應(yīng)規(guī)格的探針組，不僅耗時(shí)且費(fèi)力。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的用于提供一種檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法，可適用于不同規(guī)格的檢測(cè)。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種檢測(cè)系統(tǒng)用以對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行電性檢測(cè)，且包括檢測(cè)機(jī)、多個(gè)探針組、數(shù)據(jù)輸入設(shè)備、控制器、儲(chǔ)存器以及數(shù)據(jù)輸出裝置。其中，該檢測(cè)機(jī)具有承臺(tái)以及檢測(cè)臂，該承臺(tái)用以供具有該待測(cè)電路的待測(cè)物置放，而該檢測(cè)臂可相對(duì)該承臺(tái)移動(dòng)。所述探針組設(shè)于該檢測(cè)機(jī)上，且至少一該探針組位于該檢測(cè)臂上并可與該檢測(cè)臂同步移動(dòng)，用以供與該待測(cè)電路上的待測(cè)部位接抵。該數(shù)據(jù)輸入設(shè)備用以輸入該待測(cè)電路的待測(cè)部位的數(shù)據(jù)。該控制器設(shè)于該檢測(cè)機(jī)上，且與該檢測(cè)臂、該檢測(cè)臂上的至少一該探針組以及該數(shù)據(jù)輸入設(shè)備電性連接，用以依據(jù)該數(shù)據(jù)輸入設(shè)備輸入的數(shù)據(jù)，控制該檢測(cè)臂移動(dòng)至預(yù)定位置，并使該檢測(cè)臂上的其中一探針組與該待測(cè)電路上的待測(cè)部位接抵以進(jìn)行電性檢測(cè)。該儲(chǔ)存器與該控制器電性連接，用以儲(chǔ)存該檢測(cè)臂上的該探針組與該待測(cè)電路上的待測(cè)部位接抵后的電性檢測(cè)結(jié)果。該數(shù)據(jù)輸出裝置與該儲(chǔ)存器電性連接，用以將該電性檢測(cè)結(jié)果輸出。

本發(fā)明還提供有該檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)方法，包括下列步驟：

A.置放具有該待測(cè)電路的待測(cè)物于該承臺(tái)上；

B.操控該數(shù)據(jù)輸入設(shè)備取得該待測(cè)電路的待測(cè)部位的數(shù)據(jù)；

C.進(jìn)行該檢測(cè)機(jī)與位于該檢測(cè)臂上的該至少一探針組的數(shù)值校正；

D.該控制器依據(jù)該數(shù)據(jù)輸入設(shè)備輸入的數(shù)據(jù)，控制該檢測(cè)臂移動(dòng)至預(yù)定位置，并控制對(duì)應(yīng)的一該探針組與該待測(cè)電路上的待測(cè)部位接抵以進(jìn)行電性檢測(cè)；

E.儲(chǔ)存電性檢測(cè)的結(jié)果至該儲(chǔ)存器；

F.利用該數(shù)據(jù)輸出裝置將該儲(chǔ)存器儲(chǔ)存的電性檢測(cè)結(jié)果輸出；

G.將該待測(cè)物與該承臺(tái)分離。

由此，通過(guò)上述的設(shè)計(jì)，便可使該檢測(cè)系統(tǒng)適用于不同規(guī)格的檢測(cè)。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明較佳實(shí)施例的檢測(cè)系統(tǒng)的方塊圖。

圖2是本發(fā)明較佳實(shí)施例的檢測(cè)機(jī)的立體圖。

圖3是本發(fā)明較佳實(shí)施例的檢測(cè)臂的立體圖。

圖4是本發(fā)明較佳實(shí)施例的探針組的立體圖。

圖5是本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的檢測(cè)方法的流程圖。

圖6是本發(fā)明另一較佳實(shí)施例的檢測(cè)機(jī)的立體圖。

圖7是圖6上的探針架的立體圖。

【附圖標(biāo)記說(shuō)明】

10??檢測(cè)機(jī)

11??基座

12??承臺(tái)

13??支架

14??檢測(cè)臂

141?轉(zhuǎn)盤(pán)

142?安置座

20??探針組

21、22?探針

23?????外殼

30?????數(shù)據(jù)輸入設(shè)備

40?????控制器

50?????儲(chǔ)存器

60?????數(shù)據(jù)輸出裝置

70?????檢測(cè)機(jī)

73?????支架

74?????檢測(cè)臂

741????嵌具

75?????探針架

100????待測(cè)物

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合具體實(shí)施例，并參照附圖，對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。

請(qǐng)參圖1所示，本發(fā)明一較佳實(shí)施例的檢測(cè)系統(tǒng)用以對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行電性檢測(cè)，且包括檢測(cè)機(jī)10、多個(gè)探針組20、數(shù)據(jù)輸入設(shè)備30、控制器40、儲(chǔ)存器50以及數(shù)據(jù)輸出裝置60，其中：