[發明專利]星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量方法及其裝置

有效

• 申請號: 201410727291.4
• 申請日: 2014-12-04
• 公開（公告）號: CN104375008A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發明（設計）人: 孫永衛;曹鶴飛;王松;武占成;楊潔;原青云
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍械工程學院
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 陸林生

1.一種星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量方法，其特征在于包括如下步驟：

（a）?采用多層電路板加工工藝在介質材料（1）內沿厚度方向設置排列至少四層測試電極層，每層測試電極層上設有至少一個測試電極片，沿厚度方向的上下相鄰的兩個測試電極片結構相同且位置對應，形成一對測試電極，每對測試電極中間的介質材料（1）上設置一個溫度傳感器（8）；

（b）用模擬陽光的光源照射介質材料（1）上表面，使得介質材料（1）具有溫度梯度分布；

（c）????測量每對測試電極間的電壓V和電流I，記錄溫度傳感器（8）所測量的溫度值；?

（d）根據公式???????????????????????????????????????????????計算每對測試電極間介質材料（1）的電導率，其中S為一個測試電極片的面積，d為每對測試電極沿厚度方向的距離。

2.根據權利要求1所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量方法，其特征在于所述的每層測試電極層上設有2個以上測試電極片。

3.根據權利要求1所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量方法，其特征在于所述的步驟（b）的方法還包括在介質材料（1）四周加裝隔熱層（3），在介質材料（1）底部加裝低溫層，使介質材料（1）沿厚度方向形成垂直向下的溫度梯度分布。

4.一種采用權利要求1所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量方法的測量裝置，其特征在于包括熱源（5）、溫度采集裝置、電壓電流采集電路和采用多層電路板加工工藝沿厚度方向設置在被測的介質材料（1）內的至少四層金屬層；每層金屬層上至少設有一片金屬片（2），上下兩層金屬層間的金屬片（2）結構相同且位置對應；每個金屬片（2）邊緣引出一根引線（7），所述引線（7）與電壓電流采集電路連接，相鄰的上下兩個金屬片（2）形成一對測試電極；所述熱源（5）位于被測的介質材料（1）的上部，以一定角度照射被測的介質材料（1）上表面；所述溫度采集裝置包括溫度傳感器（8）、溫度采集電路、溫度顯示電路，所述溫度傳感器（8）放置在相鄰的上下兩個金屬片（2）所形成的測試電極的中間介質層中，所述溫度傳感器（8）與溫度采集電路連接，所述溫度采集電路與溫度顯示電路連接。

5.根據權利要求4所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量裝置，其特征在于被測的介質材料（1）的四周還包覆有隔熱層（3）。

6.根據權利要求4所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量裝置，其特征在于被測的介質材料（1）底部還鋪有低溫層。

7.根據權利要求6所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量裝置，其特征在于所述低溫層為干冰層（6）。

8.根據權利要求4所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量裝置，其特征在于所述金屬片（2）為銅片。

9.根據權利要求4所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量裝置，其特征在于所述熱源（5）為紅外加熱燈陣或太陽模擬器。

10.根據權利要求4所述的星用介質材料溫度梯度下體電導率的測量裝置，其特征在于所述被測的介質材料（1）為環氧樹脂、聚酰亞胺或聚四氟乙烯中的一種或者其中一種的改性介質材料。