[發(fā)明專利]隧道內(nèi)三維激光掃描反射率的校正方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410726488.6
• 申請日: 2014-12-04
• 公開（公告）號: CN104374780A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 許正文;付和寬;劉飛;袁釗
• 申請（專利權(quán)）人: 上海巖土工程勘察設(shè)計研究院有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/47;G01S17/46
• 代理公司: 上海申蒙商標專利代理有限公司 31214
• 代理人: 徐小蓉

1.一種隧道內(nèi)三維激光掃描反射率的校正方法，其特征在于所述校正方法包括如下步驟：在待掃描隧道區(qū)間中，通過三維激光掃描儀采集至少三個測站掃描點云數(shù)據(jù)，并按圓柱投影法生成正射影像；將生成的所述正射影像進行分區(qū)，即按所述隧道襯砌環(huán)沿隧道里程方向分區(qū)，分為1～n區(qū)，同時按所述正射影像斷面展開方向分區(qū)，至少分為A～T區(qū)；統(tǒng)計在A～T區(qū)內(nèi)相應(yīng)于各第一測線的第一反射率分布曲線；匯集各所述第一反射率分布曲線，以獲得第一反射率校正曲線；掃描所述正射影像，并根據(jù)所述第一反射率校正曲線校正所述正射影像；繼續(xù)統(tǒng)計在A～T區(qū)內(nèi)相應(yīng)于各第二測線的多個第二反射率分布曲線，其中所述第二測線的數(shù)目小于所述第一測線的數(shù)目；以多個所述第二反射率分布曲線取代所述第一反射率分布曲線中的前多個第一反射率分布曲線，并將兩者匯集以獲得第二反射率校正曲線；再次掃描所述正射影像，并根據(jù)所述第二反射率校正曲線再次校正所述正射影像。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種隧道內(nèi)三維激光掃描反射率的校正方法，其特征在于所述第一測線的數(shù)量不少于所述正射影像在斷面展開方向的分區(qū)數(shù)量。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種隧道內(nèi)三維激光掃描反射率的校正方法，其特征在于通過第N次反射率校正曲線校正所述正射影像，以使所述正射影像達到要求的清晰度，所述N的大小取決于所述正射影像需要校正的次數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種隧道內(nèi)三維激光掃描反射率的校正方法，其特征在于所述第一反射率校正曲線的計算過程為：（1）根據(jù)各所述第一反射率分布曲線，提取所述第一測線所在分區(qū)A的反射率均值H_Ai，然后將分區(qū)A的反射率均值H_Ai統(tǒng)一到分區(qū)1的反射率均值H_A1獲得兩者交叉區(qū)域的反射率校正系數(shù)I_A1，即I_A1=H_Ai/H_A1，并依此法，依次獲得分區(qū)A同其余分區(qū)2～n交叉區(qū)域的反射率校正系數(shù)I_A2、I_A3…I_An；（2）按照步驟（1）中所述方法，依次獲得分區(qū)B、C…T同分區(qū)1～n的交叉區(qū)域的反射率校正系數(shù)(I_B1、I_B2…I_Bn）、（I_C1、I_C2…I_Cn）…(I_T1、I_T2…I_Tn)；（3）匯集各所述交叉區(qū)域的反射率校正系數(shù)，以獲得所述第一反射率校正曲線。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種隧道內(nèi)三維激光掃描反射率的校正方法，其特征在于相鄰所述測站之間具有重復(fù)區(qū)域，以第一測站的重復(fù)區(qū)域的反射率校準值作為第二測站中所述重復(fù)區(qū)域的反射率均值，依次進行相鄰所述測站掃描點云數(shù)據(jù)的拼接。