[發(fā)明專利]一種制作高精度多波長弱反射率光纖光柵陣列裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410725878.1 | 申請日： | 2014-12-03 |
| 公開（公告）號： | CN104536081A | 公開（公告）日： | 2015-04-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張海兵;申和平 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京神州普惠科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G02B6/02 | 分類號： | G02B6/02 |
| 代理公司： | 武漢開元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104 | 代理人： | 唐正玉 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 制作 高精度 波長 反射率 光纖 光柵 陣列 裝置 方法 | ||
1.一種制作高精度多波長弱反射率光纖光柵陣列裝置，由寬譜光源、環(huán)形器、敏化的光纖、光譜分析儀、可調(diào)窄帶濾波器、光功率監(jiān)測系統(tǒng)組成，其特征在于：寬譜光源與環(huán)形器的端口1連接，環(huán)形器的端口2與敏化的光纖一端連接，敏化的光纖的另一端與光譜分析儀連接；環(huán)形器的端口3與可調(diào)窄帶濾波器的輸入端連接；可調(diào)窄帶濾波器的輸出端連接到光功率監(jiān)測系統(tǒng)。
2.利用權(quán)利要求1所述的制作高精度多波長弱反射率光纖光柵陣列裝置制作高精度多波長弱反射率光纖光柵陣列的方法，其特征在于按以下步驟進行：步驟一，設(shè)置光譜分析儀的分辨率、中心波長和波長跨度，在敏化的光纖上刻制光纖光柵時，并將光纖光柵的中心波長的偏差控制在0.1nm以內(nèi)，獲得弱反射率光纖光柵的透射譜；步驟二，設(shè)置可調(diào)窄帶濾波器的中心波長和波長跨度，在光功率監(jiān)測系統(tǒng)中獲得弱反射率光纖光柵的反射功率以及反射點的位置信息；當光纖光柵的反射功率達到設(shè)計要求時即刻好一條光纖光柵；步驟三，重復步驟一和步驟二，直到刻完所有的光纖光柵完成多波長弱反射率光纖光柵陣列。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制作高精度多波長弱反射率光纖光柵陣列的方法，其特征在于：所述多波長弱反射率光纖光柵陣列的弱反射率控制在5％的設(shè)計誤差以內(nèi)。
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